全自動比表面積儀，比表面積測試儀，比表面積及孔隙率測試儀
精微高博是比表面積測定儀具權威的廠商,精微高博比表面積測定儀一并榮獲中國計量院測試證書,ISO9001及CE并且還有的產品是通過高新技術企業
精微高博全自動比表面積儀，比表面積測試儀，比表面積及孔隙率測試儀具有兩個獨立分析站，兩個樣品同時測試，效率提高一倍，控制和測試達國際先進水平

全自動比表面積儀，比表面積測試儀，比表面積及孔隙率測試儀功能
比表面測定：    BET（單點、多點）比表面，Langmuir比表面，外表面測定；
BJH孔徑分布測定：    總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布；
微孔常規分析：    微孔總孔體積、總內表面積（t-圖、D&R、MP等）
真密度測定

全自動比表面積儀，比表面積測試儀，比表面積及孔隙率測試儀技術參數
比表面積測定儀原理方法：  低溫氮吸附，靜態容量法
比表面積測定儀吸附氣體：  高純氮氣，也可用氪、氦、二氧化碳等其他氣體
比表面積測定儀極限真空：  4 - 6.7×10-2Pa （3- 5×10-4   Torr）
比表面積測定儀氮氣分壓：  4×10-5 – 0.995
比表面積測定儀控制：  測試壓力點控制小間隔可小于0.1 KPa （0.75  Torr）
比表面積測定儀測試范圍：  比表面  ≥ 0.01 M2/g，無規定上限
                           孔徑  0.35 - 400 nm
比表面積測定儀測試：  ≤±2%
比表面積測定儀測試效率：  雙工作站，測試效率提高一倍，多點BET比表面測定，每樣平均15min
                          孔徑分析兩個樣品同時測試，效率也提高一倍
比表面積測定儀預 處 理：  兩個樣品同位處理，溫度50-400℃，±1℃
比表面積測定儀專用軟件：  BET（單點、多點）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R等

全自動比表面積儀，比表面積測試儀，比表面積及孔隙率測試儀特色
    ◎  比表面儀具有雙工作站，測試效率提高一倍，多點BET比表面測定，每樣平均15min
    ◎  比表面儀具有國內通過技術鑒定的產品，控制和測試達到國際先進水平；
    ◎  比表面儀具有獨有的抽氣與充氣速度精密控制技術，超微粉樣品也不會被抽飛；
    ◎  比表面儀具有獨特的多途徑液氮面控制與校正技術，連續測試10小時也不需添加液氮；
    ◎  比表面儀具有完善的標準等溫線數據庫和規范的分析方法，微孔常規測試技術國內；
    ◎  比表面儀具有專用軟件功能齊全、界面友好、操作方便、實時顯示樣品的吸、脫附壓力變化及平衡過程；
    ◎  比表面儀具有實驗全程自動化、智能化控制，長時間運行完全可以無人職守。

全自動比表面積儀，比表面積測試儀，比表面積及孔隙率測試儀應用領域:吸附劑(如活性碳,硅膠,活性氧化鋁,分子篩,活性炭,硅酸鈣,海泡石,沸石等);陶瓷原材料(如氧化鋁,氧化鋯,硅酸鹽,氮化鋁,二氧化硅,氧化釔,氮化硅,石英,碳化硅等);橡塑材料補強劑(如炭黑,白碳黑,納米碳酸鈣,碳黑,白炭黑等);電池材料(如鈷酸鋰,錳酸鋰,石墨,鎳鈷酸鋰,氧化鈷,磷酸鐵鋰,鈦酸鋰,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物電池材料,堿錳材料,鋰離子材料,鋰錳材料,堿性材料,鋅錳材料,石英粉,鎂錳材料,碳性材料,鋅空材料,鋅汞材料,乙炔黑,鎳氫材料,鎳鎘材料,隔膜,活性物資,添加劑,導電劑,緩蝕劑,錳粉,電解二氧化錳,石墨粉,氫氧化亞鎳,泡沫鎳,改性石墨材料,正極活性物質,負極活性物質,鋅粉等);金屬氧化物(如氧化鋅,氧化鈣,氧化鈉,氧化鎂,氧化鋇,氧化鐵,氧化銅等);磁性粉末材料(如四氧化三鐵,鐵氧體,氧化亞鐵等);納米金屬材料(如納米銀粉,鐵粉,銅粉,鎢粉,鎳粉,鋁粉,鈷粉等);環保行業(如顏填料,柱填料,無機顏料,碳酸鈣,氧化硅,礦物粉,沉積物,懸浮物等);無機粉體材料(如氧化鈦,鈦白粉,二氧化鈦等);納米材料(如納米粉體材料,納米陶瓷材料等);稀土,煤炭,水泥,儲能材料,催化劑(硅藻土),凈化劑,助濾劑,發光稀土粉末材料,粉體材料,粉末材料,超細纖維,多孔織物,復合材料等粉體和顆粒材料的比表面積及孔徑的檢測分析,廣泛適用于高校及科研院所材料研究和粉體材料生產企業產品質量監控

公司介紹
北京市科委認定的高新技術企業
中國的粉體材料測試儀器的生產企業
能為粉體材料企業提出產品解決方案的企業
北京精微高博公司的前身是北京匯海宏納米科技有限公司，原產品型號是3H2000型，研發始于2000年，是與北京理工大學機械工程學院、材料學院教授合作的成果，2004年正式成立北京精微高博公司，致力于粉體材料比表面積、孔徑、孔隙度分析儀器的研究與制造，公司有資深的粉體材料研究，有資深的儀器儀表行業，有技術熟練的售后服務，有以客戶需求為導向的市場營銷，為眾多科研機構、高等院校、材料企業提供了具有國際水平的儀器，受到國家科技部領導、中國分析測試協會領導的高度評價與贊揚。
作為本行業內的高新技術企業，精微高博在分析儀器行業為弘揚我國的民族品牌做出了很大的貢獻，客戶涵蓋了國內90%以上的地區，并且出口到了日本、美國、印度、波蘭、巴西、內蒙、伊朗、泰國、斯里蘭卡、朝鮮等十幾個國家，公司產品分為動態方法測量和靜態方法測量兩大系列，十幾個品種，產品在非金屬礦粉、金屬粉、水泥、醫藥、涂料、顏料、染料、農藥、陶瓷、化工、地質、電池正負極材料等生產領域得到了廣泛的應用，同時在全國近百所高等院校及科研院所的教學和研究領域也發揮著很大的作用。
北京精微高博公司器銷售逐年成倍增加，形勢喜人，良好的售后服務也得到了眾多客戶的認同與好評，在成績面前公司全體員工不驕不躁，在公司董事長鐘家湘教授帶領下，朝氣蓬勃的年輕一代正在向更高端的領域進發，為打造行業內世界一流民族品牌努力拼搏。

公司榮譽
高新技術企業
中關村高新技術協會理事單位
中國分析測試協會會員單位
北京粉體技術協會理事單位
受進行產品鑒定的企業
歐盟安全體系認定證書
中國計量研究院儀器校準證書
北京市可引進人才進京落戶單位
公司的價值
領導行業發展；尊重人才與創新；以服務客戶為己任。

全自動比表面積儀，比表面積測試儀，比表面積及孔隙率測試儀的權威研發商
研發比表面，比表面積，比表面積儀，比表面測定儀，比表面積測試儀，比表面積測定儀，比表面及孔徑分析儀，比表面積分析儀，孔徑分析儀，孔徑分布，孔隙率測定儀，孔隙率分析儀，孔隙度分析儀，比表面及孔隙率測定儀，孔容測定儀，物理吸附儀等。
精微高博是一家以研發，生產及銷售全自動比表面積儀，比表面積測試儀，比表面積及孔隙率測試儀器檢測儀器的具有地位的公司

本公司經營比表面，比表面分析儀，全自動比表面積儀，比表面積測試儀，比表面積及孔隙率測試儀，比表面測試等，質量保證，歡迎咨詢洽談。
本文由上海精微高博科技www.shjwgb.com原創，歡迎轉載，轉載請保留出處，謝謝。

全自動比表面積儀，比表面積測試儀，比表面積及孔隙率測試儀儀器簡介：
         比表面積是單位質量物質的總表面積（㎡／g），是超細粉體材料體別是納米材料重要的物性之一。測定比表面的方法很多，其中氮吸附法是常用、可靠的方法，已列入國際標準和我國國家標準。
氮吸附法假定粉體的表面吸附了一層氮分子，已經知道每個氮分子所占的橫截面積為0.162nm²，則粉體的比表面積（Sg）可由下式求出：Sg = 4.36Vm / W ,式中Vm為重量為W的粉體材料表面氮的單層吸附量。氮吸附儀的主要功能是能測出氮氣吸附量。按照方法不同，氮吸附儀分為靜態容量法、靜態重量法和動態法（又稱連續流動色譜法）三種。
         動態法以氮氣為吸附質，氦氣為載氣，兩種氣體按指定比例混合，達到一定的氮氣分壓，讓這種氣體流經裝有粉末樣品的樣品管，當樣品管置于液氮溫度時，氮氣在樣品表面產生物理吸附，而氦氣不被吸附，這時氣流中氮氣的濃度減少， 在濃度傳感器上（熱導檢測器）產生電信號，形成一個所謂的氮氣吸附峰，當樣品管回到室溫時，樣品表面吸附的氮氣會全部脫附出來，并形成一個脫附峰。吸（脫）附峰面積的大小正比于氮氣的吸附量，正比于樣品的比表面積。
         直接對比法是選擇已知比表面積（Sg 0）的標準樣品，與被測樣品并聯到相同的氣路中，只要先后測出標樣和被測樣的脫附峰面積（Ao、Ax）,被測樣品的比表面可由下式求得：Sg＝Sg 0×AxWo／AoWx 。其中Wo和Wx分別是標樣和被測樣的重量，直接對比法操作簡單，測試速度快，適合于與標準樣品吸附能力相近材料的比表面的快速測定，特別適用于生產的在線檢測。“直接對比法”測定比表面積有一個局限性，即被測樣品與標準樣品的吸附特性必須一致，否則測定的性會受到影響。
         BET比表面的測定方法則沒有上述的局限性。因為用氮吸附法測定比表面時，必須知道粉體表面對氮氣的單層吸附量Vm ,而實際的吸附量V并非是單層吸附，即所謂多層吸附理論，通過對氣體吸附過程的熱力學與動力學分析，發現了實際的吸附量V與單層吸附量Vm之間的關系，這就是的BET方程，BET方程適用于（P/Po）在0.05-0.35范圍中，因此，在０.05-0.35 的范圍中選擇4-5個不同的(P/Po)，測出每一個氮分壓下的氮氣吸附量V , 并用P/V(Po-P) 對 (P/Po)作圖，由圖中直線的斜率和截距求出Vm，再由下式求出比表面 S = 4.36×Vm ／W。本機就是用BET法測定比表面的儀器。
         BET比表面測定在絕大多數條件下，圖中直線的截距都很小，因此該直線可近似看成是通過坐標原點的直線，這時只要在0.05-0.35范圍內選擇一個（P/Po）,做試驗,求得一個吸附量V,在P/V(Po-P)-(P/Po)圖上將該點直接與原點相連,得到的直線的斜率的倒數即為Vm,由此求出比表面. 單點法測出的比表面誤差在5%左右，也是一種較理想的快速測量方法。