儀器簡介：
NHT2 納米壓入測試儀 (0.1 - 500mN)
瑞士CSM公司在原有NHT納米壓痕儀的基礎(chǔ)上，推出了NHT2 （NHT第二代）納米壓痕測試儀。采用了UNHT（CSM超納米壓痕儀）的先進技術(shù)，其靈敏度及噪音水平和穩(wěn)定性得以顯著提高。
NHT2 納米壓痕儀主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性。可適用于有機或無機、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，光學(xué)薄膜，微電子鍍膜，保護性薄膜，裝飾性薄膜等等。基體可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料，包括金屬、合金、半導(dǎo)體、玻璃、礦物和有機材料等。
采用先進的top reference（表面參比測試技術(shù)）設(shè)計, NHT2 納米壓痕儀將熱漂移效應(yīng)（thermal drift）降低到了0.02nm/s的水平。客戶不需要軟件模擬近似扣除即可獲得可靠、穩(wěn)定的數(shù)據(jù)，也不需要長期甚至隔夜的穩(wěn)定時間。對實驗室的環(huán)境要求大為降低。
NHT2 納米壓痕儀同時具備了世界上先進納米測試系統(tǒng)所具有的豐富的測量模式，如恒應(yīng)變速率加載、視頻定位壓入、沖擊模式等。通過納米力學(xué)平臺的設(shè)計，客戶可以選擇其它豐富的選件構(gòu)建全套的納米力學(xué)綜合測試系統(tǒng)。如AFM原子力顯微鏡同步成像、微米壓痕模塊、微米或納米劃痕模塊、微納米摩擦磨損模塊、變溫、濕度控制、真空環(huán)境等等。詳情請咨詢： 或發(fā)郵件至：
技術(shù)參數(shù)：
載荷范圍：0-500mN
載荷分辨率：40nN
壓入深度：200um
位移分辨率： 0.004nm
主要特點：
特點
獨特的參比環(huán)設(shè)計-實時消除大部分熱漂移
帶有反饋系統(tǒng)的載荷加載系統(tǒng)
靈活的試樣夾具可夾持各種尺寸試樣（無需用膠粘結(jié)試樣）
高質(zhì)量金相顯微鏡觀測系統(tǒng)
計算機軟件包，自動進行數(shù)據(jù)獲取、儲存、分析等
豐富、靈活的擴展空間
選件
其它力學(xué)測試模塊（如微納米劃痕、超納米壓痕等）
真空及環(huán)境(溫度、濕度）控制
原子力顯微鏡成像系統(tǒng)
環(huán)境隔離罩
公司簡介：瑞士CSM儀器公司三十年來致力于為材料、物理、機械工作者提供先進、精準(zhǔn)、全面的材料機械性質(zhì)測試儀器、分析咨詢以及測試服務(wù)。我們的主要產(chǎn)品包括：
測量材料硬度和彈性模量的納米級、微米級儀器化壓入測試儀（納米壓痕儀, 顯微壓痕儀）；
界定膜基結(jié)合強度、薄膜抗劃擦能力的納米級、微米級、大載荷劃痕測試儀 (Scratch tester) ；
包括真空、高溫以及線性往復(fù)運動等選項的摩擦磨損測試儀、納米摩擦儀 (摩擦磨損試驗機 ；
簡便易用的膜厚測試儀；
用于三維成像表征材料表面形貌的原子力顯微鏡 (AFM) 和白光共聚焦顯微鏡 (Confocal Microscope) 。
