GD-Profiler2可以快速、同時(shí)分析七十余種元素，包括氮、氧、氫和氯元素，是一種用于薄膜(包括涂層、鍍層、滲層等)成份和工藝分析的理想工具。
GD-Profiler2采用脈沖工作模式的RF光源，可以有效地分析熱傳導(dǎo)性能差和熱敏感的樣品。應(yīng)用領(lǐng)域包括腐蝕與防腐、PVD、CVD、過程控制，也可用于日常的金屬和合金的產(chǎn)品質(zhì)量控制與檢測。
詳細(xì)指標(biāo)參數(shù)可訪問https://www.horiba.com/cn/scientific/products
技術(shù)參數(shù)：
*RF射頻發(fā)生器- 標(biāo)準(zhǔn)配置，符合E級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，穩(wěn)定性高，濺射束斑極為平坦，等離子體穩(wěn)定時(shí)間極短，表面信息無任何失真。
*脈沖工作模式既可分析常見的涂、鍍層和薄膜，也可以很好的分析熱傳導(dǎo)性能差和熱易碎的涂、鍍層和薄膜。
*多道(同時(shí))型光學(xué)系統(tǒng)可全譜覆蓋，光譜范圍：110nm至800nm，包含遠(yuǎn)紫外，可分析C, H, O, N, Cl
*HORIBA Jobin Yvon 的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器有光通量，因而有的光效率和靈敏度
*HDD® 檢測器可進(jìn)行快速而高靈敏的檢測，動(dòng)態(tài)范圍達(dá)到10個(gè)量級(jí)
*寬大的樣品室方便各類樣品的加載
*功能強(qiáng)大的QUANTUMT XP軟件可以多種格式靈活方便的輸出檢測
*激光指點(diǎn)器(CenterLite laser pointer，申請(qǐng)中)可用于加載樣品
*HORIBA Jobin Yvon獨(dú)有的單色儀(選配件)可極大的提高儀器的靈活性，可同時(shí)測定N+1個(gè)元素
主要特點(diǎn)：
HORIBA Jobin Yvon 所生產(chǎn)的輝光放電發(fā)射光譜儀(RF-GD-OES)采用射頻(RF)光源，可以進(jìn)行導(dǎo)體和非導(dǎo)體材料的基體、表面、逐層分析，是一種快速的、操作簡單的分析手段。
GDS是一種理想的表面、逐層分析工具，分析深度高達(dá)幾百微米，深度分辨率可至原子層。
HORIBA Jobin Yvon所生產(chǎn)的輝光放電光譜儀(GD)全部采用技術(shù)的HDD(High Dynamic range Detection)檢測器，可以實(shí)時(shí)、自動(dòng)優(yōu)化工作參數(shù)，在靈敏度和動(dòng)態(tài)范圍不受任何損失的情況下，一個(gè)分析通道就能完全滿足同一元素在不同層面內(nèi)微量和主量的測定。
