- 品牌/商標：賽凡光電
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：北京
特點
- 一體化樣品臺技術，兼容測量單晶和多晶太陽電池樣品
- 新型樣品調節技術，有效提高樣品定位
- 獨特的噪聲處理方法，顯著增強信噪比
- 新型光電增強技術，顯著降低生產現場噪聲對結果的影響
- 現場供電檢測和調節功能，適應更加復雜的供電環境
- 多種測量模式選擇，適合對不同要求的場合
- 多線程軟件結構，提高用戶體驗
應用領域
絨面單晶、多晶及各種薄膜太陽電池上納米薄膜的厚度、折射率n和消光系數k測量，尤其適合太陽電池生產線上的現場檢測。同時可用于納米薄膜樣品的生產工藝研究以及實驗室中的科研使用，應用領域包括半導體、集成電路、微電子、光學薄膜、醫學與生命科學、電化學、平板顯示領域、磁介質存儲、聚合物和金屬處理等。
技術指標
激光波長 | 632.8nm (He-Ne laser) |
膜層厚度 | 0.01nm (對于Si基底上110nm的SiO2膜層) |
折射率 | 1x10-4 (對于Si基底上110nm的SiO2膜層) |
光學結構 | PSCA |
激光光束直徑 | < |
入射角度 | 40°-90°可選，步進5° |
樣品方位調整 |
|
樣品臺尺寸 | 兼容125* |
單次測量時間 | 0.2s |
推薦測量范圍 | 0-6000nm |
外形尺寸(長x寬x高) | 991 x 332 x |
儀器重量（凈重） |
測試曲線