分光輻射亮度計
 CS-2000A

新品

高光譜輻射亮度曲線/ 可測亮度可達0.003 cd/m²

產品介紹

測量端低亮度的能力水平

※
作為一款色彩分光輻射亮度計（于2008年10月）

100,000 : 1的對比度測量現在已成為可能！

※
當測量峰值達300 cd/m²

測量實例：測量一塊研發(fā)階段時的電致發(fā)光（Organic EL）平板

隨著高清電視時代的開始，為了更好地還原明銳亮麗、高分辨率的圖像，一些更高質量的支持全高清的顯示設備的發(fā)展也日益加速。目前的技術可亮度層次100,000 : 1的對比度，畫面會給您更真實的感受。由于需要有儀器能夠測量到端更低的亮度，因此在重現一些“比黑色更黑的”圖像時，技術上遇到了瓶頸。

另外，一些其他類型的發(fā)光元件發(fā)展，如電致發(fā)光（Organic EL）與傳統(tǒng)的LCD和PDP顯示一樣，都需要更高的光譜輻射曲線分析。CS-2000就是一款具有以上測量功能的分光輻射亮度計，它的端低亮度測量了的水平，達0.003 cd/m²，測量對比度可達100,000 : 1。

在低亮度為0.003 cd/m²時，儀器也能保持高測量

柯尼卡美能達將的光學設計技術與信號處理技術充分結合，為在端低亮度0.003 cd/m²下色度和亮度測量的高提供了保障。

低亮度測量：從0.003 cd/m²起
測量：±2%（亮度）

在低亮度時也能快速測量

儀器的設計充分消除了機械及電路噪聲，使CS-2000在低亮度時也能進行重復性很好的測量。

1 cd/m²時的測量時間：
約5秒（快速模式）

*
柯尼卡美能達以前的型號CS-1000：約123秒

低偏振誤差

由于使用反射型衍射光柵引起的偏振誤差被減小到只有2%（測量角度：1°）。這使那些使用偏振片的顯示設備如LCD的測量數據的穩(wěn)定性得到了保障。

5 nm的半波寬

儀器5 nm的半波寬，滿足了對于色度測量的要求（JIS Z 8724-1997，CIE 122-1996），了在整個可見光波長范圍內色度的測量。

可選擇的測量角度，可測量小的面積

CS-2000可根據您不同的應用對象，選擇不同的光學測量角度。

測量角度選擇：1°，0.2°，0.1°
小測量面積：?0.1 mm（使用近攝鏡時）

實用的設計

• 儀器的操作溫度范圍是5℃～35℃，與實際工作環(huán)境相近，儀器操作時的性。
• 儀器需要在開機后預熱30秒，即可進行正常測量。（測量角度：1°；目標亮度：5 cd/m2以上；23℃時）

即使是有周期性發(fā)光特性的光源，也可得到穩(wěn)定的測量數據

1. 內同步測量
   通過輸入同步頻率進行測量
2. 外同步測量
   通過外接輸入垂直同步信號進行測量
3. 多重積分模式測量
   減少測量非同步時采集信號的變化或測量那些發(fā)光特性周期不規(guī)則的光源

簡潔的操作面板和彩色LCD顯示屏使得操作更簡便

彩色LCD顯示屏和操作面板設置在儀器背面，簡潔的按鈕排列使您可以更直觀地調用想要的功能。

特點

可選擇合適的測量角度，以滿足不同的被測對象。

1° 測量角適用于

傳統(tǒng)的測量對象如中、大尺寸的顯示器。

• LCD，PDP或EL平板顯示
• 移動電話或者數碼相機的LCD面板
• 各類航空用雷達或儀器設備的顯示面板
• 戶外大屏幕顯示設備

0.2° 測量角適用于

小面積光源如LEDs

• 車載音響系統(tǒng)
• 汽車顯示面板
• 熒光燈、背光燈管等一些光源

0.1° 測量角適用于

小的發(fā)光源或遠距離光源

• PDP或LCD的像素點
• 冷陰管
• 汽車剎車燈
• 交通信號燈

測量小面積時使用的近攝鏡（可選配件）

儀器配合可選的近攝鏡一起使用，可以測量的小面積為Φ0.1mm，不可以測量常規(guī)尺寸的顯示設備，也可以測量一些小面積的光源。

測量距離和測量面積

測量距離（單位：mm）測量角度1°0.2°0.1°當使用近攝鏡時55.0 70.9 350 500 1,000 2,000

φ1.00	φ0.20	φ0.10
φ1.39	φ0.28	φ0.14
φ5.00	φ1.00	φ0.50
φ7.78	φ1.56	φ0.78
φ16.66	φ3.33	φ1.67
φ34.18	φ6.84	φ3.42

*
測量距離是從物鏡或近攝鏡金屬部分末端算起。

重復性對比實驗

*
在目標亮度為0.1 cd/m²時，與柯尼卡美能達以前的型號CS-1000做比較
*
y 軸代表了：假設CS-2000測量的平均值為1時，CS-1000測量值的對數

亮度(Lv)

色度(x)

色度(y)

儀器通過在設計上充分消除了機械及電路噪聲，了更好的重復性。

被測亮度與測量時間

（單位：秒）

亮度(cd/m2)一般模式快速模式

0.003	243	35
0.01	243	35
0.1	155	27
1	19	5
10	4	4
300	3.7	3.7

測量對象：標準光源A

*
的時間代表接近值。

測量實例

PDP

LCD

Organic EL

技術解析

傳感模組的
熱分析圖

CS-2000的，光學傳感器，通過的分析設計，消除了其成分中的熱量對測量數據的疊加影響。

規(guī)格

CS-2000主要規(guī)格

型號 波長范圍 波長分辨率 顯示波長寬度 波長 光譜波寬 測量角度 （可選） 測量亮度范圍（標準光源A） 小測量區(qū)域 小測量距離 小光譜輻射顯示 ：亮度（標準光源A）*1 ：色度（標準光源A）*1 重復性：亮度（2σ）（標準光源A）*2 重復性：色度（2σ）（標準光源A）*2 偏振誤差 積分時間 測量時間 色空間模式 接口 操作溫度/濕度范圍 存儲溫度/濕度范圍 電源 功率 尺寸 重量

CS-2000
380 ～ 780 nm
0.9 nm/pixel
1.0 nm
±0.3 nm（校準波長：435.8 nm，546.1 nm，643.8 nm，Hg-Cd燈）
5 nm以下（半波寬）
1°	0.2°	0.1°
0.003～5,000 cd/m2	0.075～125,000 cd/m2	0.3～500,000 cd/m2
Φ5 mm（當使用近攝鏡頭時為Φ1 mm）	Φ1 mm（當使用近攝鏡頭時為Φ0.2 mm）	Φ0.5 mm（當使用近攝鏡頭時為Φ0.1 mm）
350 mm（當使用近攝鏡頭時為55 mm）
1.0×10-9W/sr, m2, nm
±2%
x : ±0.0015 (0.05 cd/m2以上) y : ±0.001 (0.05 cd/m2以上) x,y : ±0.002 (0.005 ~ 0.05 cd/m2) x,y : ±0.003 (0.003 ~ 0.005 cd/m2)	x : ±0.0015 (1.25 cd/m2以上) y : ±0.001 (1.25 cd/m2以上) x,y : ±0.002 (0.125 ~ 1.25 cd/m2) x,y : ±0.003 (0.075 ~ 0.125 cd/m2)	x : ±0.0015 (5 cd/m2以上) y : ±0.001 (5 cd/m2以上) x,y : ±0.002 (0.5 ~ 5 cd/m2) x,y : ±0.003 (0.3 ~ 0.5 cd/m2)
0.15% (0.1 cd/m2以上) 0.3% (0.05 ~ 0.1 cd/m2) 0.4% (0.003 ~ 0.05 cd/m2)	0.15% (2.5 cd/m2以上) 0.3% (1.25 ~ 2.5 cd/m2) 0.4% (0.075 ~ 1.25 cd/m2)	0.15% (10 cd/m2以上) 0.3% (5 ~ 10 cd/m2) 0.4% (0.3 ~ 5 cd/m2)
0.0004 (0.2 cd/m2以上) 0.0006 (0.1 ~ 0.2 cd/m2) 0.001 (0.005 ~ 0.1 cd/m2) 0.002 (0.003 ~ 0.005 cd/m2)	0.0004 (5 cd/m2以上) 0.0006 (2.5 ~ 5 cd/m2) 0.001 (0.125 ~ 2.5 cd/m2) 0.002 (0.075 ~ 0.125 cd/m2)	0.0004 (20 cd/m2以上) 0.0006 (10 ~ 20 cd/m2) 0.001 (0.5 ~ 10 cd/m2) 0.002 (0.3 ~ 0.5 cd/m2)
1°：2%以下（400 ～ 780 nm）；0.1°和0.2°：3%以下（400 ～ 780 nm）
快速：0.005～16秒；普通：0.005～120秒
小1秒（手動模式）至243秒（普通模式）
Lvx y，Lvu' v'，LvTΔuv，XYZ，光譜曲線，特征波長，激發(fā)純度，暗視覺亮度（使用CS-S10w軟件）
U 1.1
5～35℃，相對濕度80%以下，無凝露
0～35℃，相對濕度80%以下，無凝露
電源適配器（100-240～，50/60 Hz）
約20 W
158（寬） × 200（高） × 300（長） mm（主機）, Φ 70 × 95mm（鏡頭）
6.2 kg

*1
在溫度23±2℃，相對濕度65%以下的條件下，普通模式測量10次的平均值
*2
在溫度23±2℃，相對濕度65%以下的條件下，普通模式測量10次

系統(tǒng)圖

數據處理軟件

CS-S10w 版（標準配件）

使用該軟件，CS-2000可通過計算機控制進行測量，并將數據以多種圖表或列表形式顯示。也可以將測量數據復制粘貼或者導出到其他軟件工作表中。CS-S10w提供了大量的數據管理、分析、評估方式，可幫助您更簡便、地進行研發(fā)或者品質控制工作。

• 數據處理軟件CS-S10w

• 上述規(guī)格若有更改，恕不另行通知。

規(guī)格

CS-2000A主要規(guī)格

型號 波長范圍 波長分辨率 顯示波長寬度 波長 光譜波寬 測量角度 （可選） 測量亮度范圍（標準光源A） 小測量區(qū)域 小測量距離 小光譜輻射顯示 ：亮度（標準光源A）*1 ：色度（標準光源A）*1 重復性：亮度（2σ）（標準光源A）*2 重復性：色度（2σ）（標準光源A）*2 偏振誤差 積分時間 測量時間 色空間模式 接口 操作溫度/濕度范圍 存儲溫度/濕度范圍 電源 功率 尺寸 重量

CS-2000A
380 ～ 780 nm
0.9 nm/pixel
1.0 nm
±0.3 nm（校準波長：435.8 nm，546.1 nm，643.8 nm，Hg-Cd燈）
5 nm以下（半波寬）
1°	0.2°	0.1°
0.0005~5,000cd/m2	0.0125~125,000cd/m2	0.05~500,000cd/m2
Φ5 mm（當使用近攝鏡頭時為Φ1 mm）	Φ1 mm（當使用近攝鏡頭時為Φ0.2 mm）	Φ0.5 mm（當使用近攝鏡頭時為Φ0.1 mm）
350 mm（當使用近攝鏡頭時為55 mm）
1.0×10-9W/sr, m2, nm
±2%
x : ±0.0015 (0.05 cd/m2以上) y : ±0.001 (0.05 cd/m2以上) x,y : ±0.002 (0.001 ~ 0.05 cd/m2)	x : ±0.0015 (1.25 cd/m2以上) y : ±0.001 (1.25 cd/m2以上) x,y : ±0.002 (0.025 ~ 1.25 cd/m2)	x : ±0.0015 (5 cd/m2以上) y : ±0.001 (5 cd/m2以上) x,y : ±0.002 (0.1 ~ 5 cd/m2)
0.15% (0.05 cd/m2以上) 0.25% (0.003 ~ 0.05 cd/m2) 0.7% (0.001 ~ 0.003 cd/m2) 1.5% (0.0005 ~ 0.001 cd/m2)	0.15% (1.25 cd/m2以上) 0.25% (0.075 ~ 1.25 cd/m2) 0.7% (0.025 ~ 0.075 cd/m2) 1.5% (0.0125 ~ 0.025 cd/m2)	0.15% (5 cd/m2以上) 0.25% (0.3 ~ 5 cd/m2) 0.7% (0.1 ~ 0.3 cd/m2) 1.5% (0.05 ~ 0.1 cd/m2)
x,y: 0.0004 (0.2 cd/m2以上) x,y: 0.0006 (0.1 ~ 0.2 cd/m2) x: 0.001 y:0.0015 (0.003 ~ 0.1 cd/m2) x: 0.003 y:0.0035 (0.001 ~ 0.003 cd/m2)	x,y: 0.0004 (5 cd/m2以上) x,y: 0.0006 (2.5 ~ 5 cd/m2) x: 0.001 y: 0.0015 (0.075 ~ 2.5 cd/m2) x: 0.003 y: 0.0035 (0.025 ~ 0.075 cd/m2)	x,y : 0.0004 (20 cd/m2以上) x,y : 0.0006 (10 ~ 20 cd/m2) x: 0.001 y: 0.0015 (0.3 ~ 10 cd/m2) x: 0.003 y: 0.0035 (0.1 ~ 0.3 cd/m2)
1°：2%以下（400 ～ 780 nm）；0.1°和0.2°：3%以下（400 ～ 780 nm）
快速：0.005～16 秒；普通：0.005～120 秒
小1秒（手動模式）至243秒（普通模式）
Lvx y，Lvu' v'，LvTΔuv，XYZ，光譜曲線，特征波長，激發(fā)純度，暗視覺亮度（使用CS-S10w軟件）
U 1.1
5～35℃，相對濕度80%以下，無凝露
0～30℃，相對濕度80%以下，無凝露
電源適配器（100-240～，50/60 Hz）
約20 W
158（寬） × 200（高） × 300（長） mm （主機），Φ70 × 95mm（鏡頭）
6.2 kg

*1
在溫度23±2℃，相對濕度65%以下的條件下，普通模式測量10次的平均值
*2
在溫度23±2℃，相對濕度65%以下的條件下，普通模式測量10次

系統(tǒng)圖

數據處理軟件

CS-S10w 版（標準配件）

使用該軟件，CS-2000可通過計算機控制進行測量，并將數據以多種圖表或列表形式顯示。也可以將測量數據復制粘貼或者導出到其他軟件工作表中。CS-S10w提供了大量的數據管理、分析、評估方式，可幫助您更簡便、地進行研發(fā)或者品質控制工作。