半導(dǎo)體動態(tài)老化試驗箱
♦ BIC 系列主要應(yīng)用于半導(dǎo)體廠(晶圓,封裝,測試…)度或高溫老化試驗及資料分析;可提供軟硬件測試系統(tǒng)設(shè)計及規(guī)化服務(wù),依客戶端需求設(shè)計軟件畫面及報表輸出.由泰琪提供完整軟硬件測試解決方案.型號 BIC-189BC
項目 半導(dǎo)體動態(tài)老化試驗箱
溫度范圍 100℃ ~ 250℃
溫度波動度 &plun;1.0℃
溫度分布均度 &plun;1.5℃
升溫時間 RT 升至250℃約需60 分
內(nèi)箱尺寸 75W×63H×40D CM(單槽)
外箱尺寸 222W×196H×124D CM
內(nèi)箱材質(zhì) 不銹鋼光板(SUS 304)
外箱材質(zhì) 鋼板烤漆
IC 測試數(shù)量 600pcs×2
保護裝置 無熔絲開關(guān)、溫保護開關(guān)、瓷質(zhì)保險絲
配件
基板用內(nèi)外層架,預(yù)燒基板,控制基板,氮氣輸入口,儀器測試架, RS-485 接口
控制器,測試系統(tǒng)及軟件
電源 AC 3Ø 3W 220V 60HZ/ 3Ø 4W 380V 50HZ
用途 度或老化試驗
項目 EM 測試系統(tǒng)硬件規(guī)格
Burn in board 40pcs/耐溫250℃
IC SOCKET 24pin/600pcs/耐溫250℃
定電流范圍 DC0.00-100.00mA
測試定電流分辨率 0.1 / 0.01 / 0.001mA 3 檔(自動跳檔)
測試電壓 DC0.0-12.0V
測試電阻(R) 0.0 – 1000.0 ohm
分辨率 1.0 / 0.1 / 0.01 ohm 3 檔(自動跳檔)
掃瞄記錄時間 0.05SEC/channel
量測度 <= +/-0.5% (0-1Kohm)

項目 EM 測試系統(tǒng)軟件規(guī)格
量測項目 可量測電流,電壓,電阻值
量測設(shè)定 每個channel 可設(shè)定電流值
預(yù)覽功能 提供pre-check 功能
掃描速度 1200 個channel 于60sec 內(nèi)掃描讀取完成,自動判斷故障點
畫面功能 客制化graph 顯示
報表 報表數(shù)據(jù)可轉(zhuǎn)成excel 文件
輸出 報表輸出打印,資料儲存(硬盤),網(wǎng)絡(luò)連結(jié)
選配 提供TCR 功能