XPR-500C電腦型偏光熔點儀

一、儀器的主要用途和特點
    XPR-500型偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化學纖維、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子...等常用的實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。
 本系統廣泛應用于高分子材料、聚合物材料等化工領域，適用于研究物體的結晶相態分析、共混相態分布、粒子分散性及尺寸測量、結晶動力學的過程記錄分析、液晶分析、織態結構分析、熔解狀態記錄觀察分析等總多研究方向。
    偏光顯微熔點測定儀XPR-500系統匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學、自動控制、模量學等總多研究領域的當前技術，多年研究開發的結果，在國內享有.本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。

二、XPR-500C電腦型偏光熔點儀的主要技術指標

1.顯微鏡技術參數:

2.精密溫度控制儀的用途：
    CK-300型精密溫控加熱臺是專為材料學、生物化學、冶金學、化學、高分子及納米材料學而研制。與光學或電子顯微鏡配合使用，在微觀上觀察其溶化、升華、結晶過程中的狀態和各種變化。
   加熱臺由精密溫度控制儀和載物恒溫工作臺二部分組成，二者由一5芯線纜插口連接，載物恒溫工作臺置于光學或電子顯微鏡載物臺上。適用配合偏光顯微鏡構成偏光熔點測量系統。

三、熔點儀技術參數:
1)輸入電源： 交流220V &plun;10%  45-60HZ             2)熱臺加熱工作電源：直流  24V  1.5A
3)功耗：75W                                       4)溫度范圍：室溫——400℃
5)熱臺外體溫度：熱體400℃;室溫25℃時≤70℃    6)熱體載物重量：200克
7)工作方式：連續                                   8)：測量：全范圍≤&plun;0.5%
9)系統波動度：&plun;1℃                              10)升溫速度：室溫——100℃≤40秒
11)慢升溫速度達400℃時間:  4小時               12)可設置升溫速度范圍：0.5——36秒/℃
13)即刻恒溫響應時間：≤0.01秒

四、系統組成:     1、偏光顯微鏡XPR-500         2、電腦適配鏡      

3、300萬像素彩色數字攝像機          4、CK-300控溫熱臺