CST-50沖擊試樣缺口投影儀
技術協議
　　

一、產品綜述
概述
　　　該儀器是于檢測沖擊試樣V、U型缺口的精密檢測儀器。儀器光學系統質量優良，物鏡成像清晰，放大倍率準確，是材料沖擊試驗不可少的光學檢測儀器
　　　隨著國內工業技術的發展，越來越多的行業已經開始執行夏比V型缺口沖擊試驗方法，  日前國內諸如鍋爐壓力容器、冶金和機械等行業已普遍采用夏比V型缺口沖擊試驗取代使用了幾十年的梅氏U型缺口沖擊試驗。
　　　對于夏比V型缺口沖擊試驗，由于試樣V型缺口要求嚴格（試樣缺口深2mm、呈45°角且試樣缺口要求R0.25±0.025mm），故在整個試驗過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關鍵問題，如果試樣缺口的加工質量不合格，那么其試驗的結果是不可信的，是R0.25mm缺口的微小變化（其公差帶只有0.025mm），都會引起試驗結果的陡跳，尤其是在試驗的臨界值時會引起產品或報廢或合格兩種截然相反的結果。為加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工質量檢驗是一個重要的質量控制手段。目前用光學投影放大檢查是切實可行并能檢查質量的方法。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據日前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計、開發的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的光學儀器。
原理
　　　本投影儀發出的光線經聚光鏡照射到被測物，再經物鏡將被照射物體放大的輪廓投射在投影屏幕上。根據實際需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學元件投射在工作臺上，再通過一系列光學元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影屏上。物體經二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實際試樣放置的方向一致。
（三）產品特點
　　該儀器是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口與標準樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，操作簡便，檢查對比直觀、效率高，是目前切實可行、并能檢查質量的沖擊試樣缺口檢查方法，是相關理化試驗室的備儀器。
（四）適用行業
　　　本投影儀是廣大冶金、鍋爐壓力容器、車船和工程機械制及科研等部門理化實驗室的備設備。
　　　該儀器還可用于機械部件的外形輪廓、紡織物纖維、生物切片分析、工量刃具的檢驗、儀表元件和半導體元件的投影檢測。
二、技術參數
1、 放大倍數：50×；
2、 投影屏直徑：180mm；
3、 工作臺尺寸：
　　　方工作臺：110×125mm
　　　圓工作臺：90mm
　　　工作臺玻璃直徑：70 mm
 工作臺行程：縱向：10 mm；  橫向：10 mm；   升降：12 mm（無刻度）
 工作臺轉動范圍：0 — 360°
 儀器放大倍率：50×
　物鏡放大倍率：2.5×
　投影物鏡放大倍率：20×
 光源（鹵鎢燈）：12V/100W
 電源：220V/50Hz
 外形尺寸：515×224×603mm（長×寬×高）
重量：約18kg
  準樣板圖類型 執行標準 備注
2mm V U型缺口 GB/T 229-2007
EN 10045.1-1990
ASTM E23-2002a 標準樣板圖的缺口尺寸與偏差應滿足標準規定
三、標準配置
　1、 底座調整鈕：四個
　2、 電源線：一根
　3、 鹵鎢燈：二個
　4、 平玻璃板：一塊
四、質量
           設備三包期為正式交貨之日起一年。在三包期內，供貨方對設備出現各類故障及時維修服務。對非人為造成的各類件損壞，及時更換。保修期外設備在使用過程中發生故障，供貨方及時到訂貨方服務，積協助訂貨方完成維修任務。
　　　五、交貨期
　　　　供方現貨供應