高分子材料的電學性能是指在外加電場作用下材料所表現(xiàn)出來的介電性能、導電性能、電擊穿性質(zhì)以及與其他材料接觸、摩擦時所引起的表面靜電性質(zhì)等。基本的是電導性能和介電性能，前者包括電導(電導率γ，電阻率ρ=1/γ)和電氣強度(擊穿強度Eb)；后者包括化(介電常數(shù)εr)和介質(zhì)損耗(損耗因數(shù)tgδ)。共四個基本參數(shù)。

種類繁多的高分子材料的電學性能是豐富多彩的。就導電性而言，高分子材料可以是緣體、半導體和導體，如表1所示。多數(shù)聚合物材料具有卓越的電緣性能，其電阻率高、介電損耗小，電擊穿強度高，加之又具有良好的力學性能、耐化學腐蝕性及易成型加工性能，使它比其他緣材料具有更大實用價值，已成為電氣工業(yè)的材料。高分子緣材料須具有的緣電阻。緣電阻決定于體積電阻與表面電阻。由于溫度、濕度對體積電阻率和表面電阻率有很大影響，為滿足工作條件下對緣電阻的要求，須知道體積電阻率與表面電阻率隨溫度、濕度的變化。

               表1  各種材料的電阻率范圍

除了控制材料的質(zhì)量外，測量材料的體積電阻率還可用來考核材料的均勻性、檢測影響材料電性能的微量雜質(zhì)的存在。當有可以利用的相關數(shù)據(jù)時，緣電阻或電阻率的測量可以用來指示緣材料在其他方面的性能，例如介質(zhì)擊穿、損耗因數(shù)、含濕量、固化程度、老化等。表2為高分子材料的電學性能及其研究的意義。

表2        高分子材料的電學性能及測量的意義

1    目的要求

固體（液體）體積及表面電阻率測試儀的使用方法和實驗原理。

測出高聚物樣品的體積電阻率及表面電阻率，分析這些數(shù)據(jù)與聚合物分子結構的內(nèi)在聯(lián)系。

2    原理

2.1  名詞語

1) 緣電阻：施加在與試樣相接觸的二電之間的直流電壓除以通過兩電的總電流所得的商。它取決于體積電阻和表面電阻。

2) 體積電阻：在試樣的相對兩表面上放置的兩電間所加直流電壓與流過兩個電之間的穩(wěn)態(tài)電流之商；該電流不包括沿材料表面的電流。在兩電間可能形成的化忽略不計。

3) 體積電阻率：緣材料里面的直流電場強度與穩(wěn)態(tài)電流密度之商，即單位體積內(nèi)的體積電阻。

4) 表面電阻：在試樣的某一表面上兩電間所加電壓與經(jīng)過時間后流過兩電間的電流之商；該電流主要為流過試樣表層的電流，也包括一部分流過試樣體積的電流成分。在兩電間可能形成的化忽略不計。

表面電阻率：在緣材料的表面層的直流電場強度與線電流密度之商，即單位面積內(nèi)的表面電阻。

2.2    測量原理

根據(jù)上述定義，緣體的電阻測量基本上與導體的電阻測量相同，其電阻一般電壓與電流之比得到。現(xiàn)有的方法可分為三大類：直接法，比較法，時間常數(shù)法。

這里介紹直接法中的直流放，該方法采用直流放大器，對通過試樣的微弱電流經(jīng)過放大后，推動指示儀表，測量出緣電阻，基本原理見圖1。

圖1  測試原理圖。

U—測試電壓(V)；R0—輸入電阻(Ω)；RX—被測試試樣的緣電阻(Ω)

當R0《Rx時，則 Rx=(U/U0)·R0         (1)

式中：Rx——試樣電阻，(Ω)，

U——試驗電壓，(V)，

U0——標準電阻R0兩端電壓，(V)，

R0——標準電阻，(Ω)。

測量儀器中有數(shù)個不同數(shù)量級的標準電阻，以適應測不同數(shù)量級Rx的需要，被測電阻可以直接讀出。一般可測1017Ω以下的緣電阻。

從Rx的計算公式看到Rx的測量誤差決定于測量電壓U、標準電阻R0以及標準電阻兩端的電壓U0的誤差。

2.3   測量技

通常，緣材料用于電氣系統(tǒng)的各部件相互緣和對地緣，固體緣材料還起機械支撐作用。一般希望材料有盡可能高的緣電阻，并具有合適的機械、化學和耐熱性能。

緣材料的電阻率一般都很高，也就是傳導電流很小。如果不注意外界因素的干擾和漏電流的影響，測量結果就會發(fā)生很大的誤差。同時緣材料本身的吸濕性和環(huán)境條件的變化對測量結果也有很大影響。

影響體積電阻率和表面電阻率測試的主要因素是溫度和濕度、電場強度、充電時間及殘余電荷等。體積電阻率可作為選擇緣材料的一個參數(shù)，電阻率隨溫度和濕度的變化而顯著變化。體積電阻率的測量常常用來檢查緣材料是否均勻，或者用來檢測那些能影響材料質(zhì)量而又不能用其他方法檢測到的導電雜質(zhì)。

由于體積電阻總是要被或多或少地包括到表面電阻的測試中去，因此只能近似地測量表面電阻，測得的表面電阻值主要反映被測試樣表面污染的程度。所以，表面電阻率不是表征材料本身特性的參數(shù)，而是一個有關材料表面污染特性的參數(shù)。當表面電阻較高時，它常間以不規(guī)則的方式變化。測量表面電阻通常都規(guī)定1min的電化時間。

（1）溫度和濕度：固體緣材料的緣電阻率隨溫度和濕度的升高而降低，是體積電阻率隨溫度改變而變化大。因此，電瓷材料不但要測定常溫下的體積電阻率，而且還要測定高溫下的體積電阻率，以評定其緣性能的好壞。由于水的電導大，隨著濕度，表面電阻率和有開口孔隙的電瓷材料的體積電阻率急劇下降。因此，測定時應嚴格地按照規(guī)定的試樣處理要求和測試的環(huán)境條件下進行。

（2）電場強度：當電場強度比較高時，離子的遷移率隨電場強度增高而，而且在接近擊穿時還會出現(xiàn)大量的電子遷移，這時體積電阻率大大地降低。因此在測定時，施加的電壓應不過規(guī)定的值。

（3）殘余電荷：試樣在加工和測試等過程中，可能產(chǎn)生靜電，電阻越高越容易產(chǎn)生靜電，影響測量的準確性。因此，在測量時，試樣要徹底放電，即可將幾個電連在一起進行短路。

（4）雜散電勢的消除：在緣電阻測量電路中，可能存在某些雜散電勢，如熱電勢、電解電勢、接觸電勢等，其中影響的為電解電勢。用高阻計測量表面潮濕的試樣的體積電阻時，測量與保護間可產(chǎn)生20mv的電勢。試驗前應檢查有無雜散電勢。可根據(jù)試樣加壓前后高阻計的二次指示是否相同來判斷有無雜散電勢。如相同，證明無雜散電勢；否則應當尋找并排除產(chǎn)生雜散電勢的，才能進行測量。

（5）漏電流的影響：對于高電阻材料，只有采取保護技才能去除漏電流對測量的影響。保護技就是在引起測量誤差的漏電路徑上安置保護導體，截住可能引起測量誤差的雜散電流，使之不流經(jīng)測量回路或儀表。保護導體連接在一起構成保護端，通常保護端接地。測量體積電阻時，三電系統(tǒng)的保護就是保護導體。此時要求保護電和測量電間的試樣表面電阻高于與它并聯(lián)元件的電阻10～100倍。線路接好后，應先檢查是否存在漏電。此時斷開與試樣連接的高壓線，加上電壓。如在測量靈敏度范圍內(nèi)，測量儀器指示的電阻值為無限大，則線路無漏電，可進行測量。

（6）條件處理和測試條件的規(guī)定:固體緣材料的電阻隨溫度、濕度的增加而下降。試樣的預處理條件取決于被測材料，這些條件在材料規(guī)范中規(guī)定。推薦使用GB10580《固體緣材料在試驗前和試驗時采用的標準條件》中規(guī)定的預處理方法。可使用甘油—水溶液潮濕箱進行濕度預處理。測試條件應與預處理條件盡可能地一致，有些時候(如浸水處理)不能保持預處理條件和測試條件一致時，則應在從預處理環(huán)境中取出后在盡可能短時間內(nèi)完成測試，一般不過5分鐘。

（7）電化時間的規(guī)定:當直流電壓加到與試樣接觸的兩電間時，通過試樣的電流會指數(shù)式地衰減到一個穩(wěn)定值。電流間的減小可能是由于電介質(zhì)化和可動離子位移到電所致。對于體積電阻率小于1010Ω·m的材料，其穩(wěn)定狀態(tài)通常在1分鐘內(nèi)。因此，要經(jīng)過這個電化時間后測定電阻。對于電阻率較高的材料，電流減小的過程可能會持續(xù)幾分鐘、幾小時、幾天，因此需要用較長的電化時間。如果需要的話，可用體積電阻率與時間的關系來描述材料的特性。當表面電阻較高時，它常間以不規(guī)則的方式變化。測量表面電阻通常都規(guī)定1分鐘的電化時間。