DVM5000 HD 具有以下特點：
*1920×1080高動態解析度彩色實時畫面
*多種鏡頭可選：0-50X,20-160，50-400,35-7000
*360度連續旋轉觀察
*編碼技術，自動識別圖像所有獲取條件
*高清晰圖片記錄及電影錄制
*2D自動測量、的3D模型建立
*實時二維、三維圖像活圖拼接功能，3D精準剖面測量
*BGA觀察功能
*電動精密調焦
*電腦軟件一體化設計
*LED照明，使用壽命可達30000小時

The Leica DVM5000 is a highly integrated digital microscope system that features outstanding performance capacity and speed. Within a very short time, the Leica DVM5000 provides the desired results – even complex 3D models are available in mere seconds.

For quality control, usually a sample is brought to the microscope for inspection and analysis. However, some products can-not be transported and do not allow a sample to be taken for microscopic analysis; only nondestructive inspection is possible. The Leica DVM5000 is specifically designed for such situations. Here, you can bring the microscope to the sample.

徠卡DVM5000 HD 顯微鏡系統(超高倍顯微鏡)

Leica DVM5000 HD是一款高亮度LED照明的多功能3D數碼顯微鏡。Leica DVM5000 HD 可快速采集2D和3D圖像的數碼顯微鏡。并有完善且易于使用的軟件工具對2D和3D的圖像進行分析和記錄樣品。設備主體小巧便攜，設有一個大型21.5寸全高清屏幕，可顯示高對比度相機圖像。完整的硬件控制設備整合到了DVM5000 HD數字顯微鏡的設備主體中，其中包含了電機變焦驅動器和一個強大的LED光源。DVM5000 HD可與Leica顯微鏡的VZ變焦鏡頭相結合,包含了放大倍率范圍從35X到2500x的VZ700 C。 特點： ?高性能LED照明 配備的LED照明提供高強度的光源，5700K的光源使色彩還原接近自然日光，并無需預熱。在高放大倍率且較大的樣本，同樣可以獲得的分析，在拼接3D模型時可生成高達10000 x10000像素的優質圖片 。配備的控制器是Leica高精密度的變焦驅動器可提供的3D曲面數據，這也取決于選擇的變焦鏡頭解析能力。  ?用戶可方便的預覽優化圖像 預覽圖像可使用不同的設置，可快捷的為每一個不同情況下成的像找到設置。預覽優化可選HDR(高動態范圍)，防光暈(亮點抑制)和3D曲面渲染。  ?大型21.5“全高清屏幕 在生動的高對比度的高清屏幕上可顯示您的數碼顯微鏡圖像上的更多細節。大屏幕可查看一張完整的2D和3D圖像，無需用戶使用菜單控件操作。 ?每秒可拍攝24張圖像 在相機的分辨率(1600x1200像素)下每秒24張圖像，確保拍攝到要求很高的樣品細節圖像。相機的自動對焦功能的好處在于只要 通過雙擊鼠標您就可即時獲得多焦點樣品的任何部分。   ?規格型號：   Leica DVM5000 HD 圖片    Leica DVM5000 HD 用VZ700 C變焦鏡頭生成3D曲面模型。您可以用Leica DVM5000 HD選擇全自動或半自動生成三維模型。  觸摸屏控制臺可選的觸摸屏控制臺，使所有Leica DVM5000 HD功能，操作起來更方便。 用一個轉盤控制對焦驅動和旋轉鏡頭。  Leica DVM5000HD主機設計小巧優雅集成電機控制(聚焦，旋轉頭)、LED光源和21.5英寸全高清顯示器。   小巧的Leica DVM5000 HD主機可以很容易地移動。     Leica DVM5000 HD 的軟件功能 Leica DVM5000 HD功能強大。軟件提供了許多功能，如分析和記錄圖像與生成3D曲面模型。  Leica DVM5000 HD為樣品提供多個視圖。每個單一的視圖有其自身的放大倍率和校準數據。    從各個方向觀察  當涉及到研究樣品表面的微小結構時，傳統的顯微鏡的傾斜或垂直有所限制。Leica數碼顯微鏡使用極其靈活的傾斜，旋轉x/ Y階段結合即可觀看到以前無法觀察到的樣品區域。，如對電子元件焊點的可靠性檢測和分析。X/Y平臺可以方便的定位樣品。