產(chǎn)品品牌：

美國(guó)麥克儀器

產(chǎn)品型號(hào)：

TriStar II 3020

產(chǎn)品簡(jiǎn)介 TriStar II 3020是全自動(dòng)三站式比表面積和孔隙度分析儀，能夠提高質(zhì)量控制分析的檢測(cè)速度，并提供高、高分辨率和數(shù)據(jù)處理功能以滿足絕大多數(shù)研發(fā)的需要。 技術(shù)特點(diǎn) · 同時(shí)和獨(dú)立分析三個(gè)樣品 - 三個(gè)BET表面積分析時(shí)間少于20分鐘 · 標(biāo)配一個(gè)專用的飽和壓力接口，可選多種規(guī)格杜瓦瓶以及樣品管 · 可升級(jí)成高真空系統(tǒng)，用于低比表面積以及微孔的測(cè)試 · 可以測(cè)定、計(jì)算或手動(dòng)輸入自由空間 · 可以使用任何氣體，死體積測(cè)試可以不使用氦氣 · 可選滿足FDA的要求的Confirm 21 CFR Part 11的軟件。 IQ和OQ服務(wù)，確保該系統(tǒng)的準(zhǔn)確性、可靠性和一致性。這些服務(wù)保障了分析記錄的完整性 · 儀器配置了液氮液面保持裝置---液氮等溫夾，以確保整個(gè)分析過程中等溫夾套以下的溫度恒定  · 儀器可同時(shí)進(jìn)行三個(gè)樣品的分析，滿足測(cè)試量大的用戶，不是多個(gè)工作站的"排隊(duì)分析"，每個(gè)分析站都配有獨(dú)立的傳感器，保證三個(gè)分析站分析的同時(shí)進(jìn)行 · 配備了大容量杜瓦瓶，結(jié)合的液氮等溫夾，保證至少60小時(shí)無(wú)人介入操作。無(wú)上限的連續(xù)分析              · 儀器軟件包含了目前所有的數(shù)據(jù)處理方法: 單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積，Langmuir比表面積 Temkin and Freundlich等溫線分析 多種厚度層公示計(jì)算的BJH中孔和大孔的孔體積、孔面積對(duì)孔徑的分布 孔體積和用戶指定孔徑范圍內(nèi)的總孔體積 MP法的微孔孔徑分布和t-plots、αs-plots得到的微孔總孔體積 f-Ratio plots，D-R，D-A H-K法(包括Cheng & Yang校正，Saito & Foley校正) DFT密度函數(shù)理論，包括NLDFT等   產(chǎn)品應(yīng)用 借助于氣體吸附原理（典型為氮?dú)猓┛蛇M(jìn)行等溫吸附和脫附分析，用于確定比表面積、微孔孔體積和孔面積、中孔體積和面積、總孔體積等。 適用于各種材料的研究與產(chǎn)品測(cè)試，包括測(cè)量沸石、碳材料、分子篩、二氧化硅、氧化鋁、土壤、黏土、有機(jī)金屬化合物骨架結(jié)構(gòu)等各種材料。