頻率特性
范圍：
30kHz~3GHz(標準)；3
0kHz~6GHz（選件006）
分辨率：1Hz
：±10ppm(在25℃±5℃時)
輸出特性
功率范圍：-85~10dBm
分辨率：0.05dB
電平：±1.0dB(相對于0dBm輸出電平)
電平線性：(-15~+5dBm)±0.2dBm(典型值)30kHz~300kHz；
（+5 ~ +10dBm）±0.5dBm(典型值) 30kHz ~ 300kHz
阻抗：50Ω
二次諧波：在+10dBm處<-25dBc(16MHz ~ 3GHz)
三次諧波：在+10dBm處<-25dBc(16MHz ~ 2GHz)
非諧波寄生信號(典型值)
與混頻器有關的非諧波寄生信號：在+10dBm處<-30dBc
測試端口輸入特性
頻率范圍：
30kHz~3GHz(標準)；
30kHz~6GHz(選件006) 
平均噪聲電平
3kHz BW: -82dBm(<3GHz), -77dBm(3 ~ 6GHz)
10Hz BW: -102dBm(<3GHz), -97dBm(3 ~ 6GHz)
輸入電平：+10dBm
損壞電平：±26dBm或35Vdc
阻抗：50Ω(用選件075時為75Ω)
諧波：(選件002)
二次諧波：在+8dBm處為<-15dBc
三次諧波：在+8dBm處為<-30dBc
諧波測量(在25℃±5℃時)：
16MHz ~ 3GHz: ±1dB
3GHz ~ 6GHz: ±3dB(帶選件006)
諧波測量動態范圍： -40dBc(輸出=-10dBm，輸入<-15dBm)
群延遲特性
范圍：1/(2×小孔徑)
孔徑(可以選擇的)
：頻率間隔的20% 小：(頻率間隔)/(點數-1)
群延遲(單位為秒)：±(相位)(單位為度)/(360×孔徑(Hz))
結構特性
尺寸：425mm(寬)×222mm(高)×508mm(長)
重量：凈重34公斤 
★頻率范圍30kHz~6GHz
★集成化S參數測試裝置
★集成化1Hz分辨率合成信號源
★可選用時域測量和掃描諧波測量
★達110dB的動態范圍
★可測量群延遲和與線性相位的偏離
★對內置磁盤驅動器的存儲/調用
★提高內置 
HP 8753D射頻網絡分析儀
    HP 8753D 射頻網絡分析儀以低廉的價格為實驗室和生產測試提供了優越的RF網絡測量設備。


它具有集成化的S參數測試裝置，延長了校準間隔期、提高了可靠性并改善了抗靜電放電能力。HP 


8753D以比以往其它型號的測試設備更低的價格為分析30kHz~6GHz的有源或無源網絡、器件與元件


特性提供了完整的解決途徑。
網絡分析儀有2個獨立的顯示通道，供同時顯示反射和傳輸、幅度和相位或供時域和掃頻測量。便


于使用的預編程按鍵使你能迅速訪問各個測量功能，你可以在高分辨率彩色顯示器上以重疊或分


離屏面的形式觀察測量結果。 
的通用性和性能
    集成化的合成信號源提供達10mW的輸出功率(選件011為100mW)、1Hz頻率分辨率和線性、對數


、列表和連續波掃描類型。三個調諧接收機允許在6GHz上(利用選件006頻率擴展)，在105dB的寬


動態范圍或在3GHz上在100dB的寬動態范圍內(標準情況)進行獨立功率測量或同時進行的比值測量


。集成化測試裝置允許在不使用倍頻器的情況下，對工作到6GHz的器件進行傳輸和反射特性測量


。 為了在非同軸系統中進行方便而的測量，特增加了TRL*/LRM*1校準。高穩定度的頻率基準


(選件1D5)提高了對高Q器件，如表面波(SAW)諧振腔或介質諧振濾波器的頻率測量。 
提高效率
    測試時序功能允許來迅速、反復執行復雜的任務。在時序工作方式下，只需從面板測量


，分析儀便能儲存鍵入，以致無需額外編程，還可以利用測試時序經并行端口對外部裝置進


行控制。
另一些提高效率的措施包括支持LIF和DOS格式的內置磁盤驅動器、更快的CPU時鐘速率、512kB非


易失存儲器、串行和并行接口，DIN鍵盤接口以及對打印輸出和文件提供時間記錄的實時時鐘。還


包括極限測試、任意頻率測試和標記跟蹤功能。分段校準和內插誤差修正能提高分析儀已校頻率


范圍的某一區段上的矢量。 
非線性器件的測試
    為了表征非線性器件的特性，選件002增加了諧波測量功能。可以直接或以dBc 顯示放大器的


掃描、二次和三次諧波電平。按動一個按鈕，即可測量達-40dBc的諧波。功率計校準向對輸


入或輸出電平敏感的器件提供穩幅的功率。HP8753D自動對HP436A、437B或438A功率計進行控


制，使在測試系統中任何處的功率都調到具有功率計的。分析儀還完成混頻器統調和變頻損


耗測量。還能進行固定IF和掃描IF測量。 
時域分析
    利用選件010，能觀察在時域中的響應。該分析儀對頻域數據的快速傅氏逆變換(FFT)進行計


算，以顯示反射系數或傳輸系數隨時間變化的關系。兩種時域分析方式能觀察器件的階躍響應或


沖擊響應或除去一些不希望的響應，如利用選通來除去接頭失配。 1 TRL*和LRM*是直通-反射-傳


輸線和傳輸線-反射-匹配校準技術的三取樣器執行方式。 
技術指標摘要
測試裝置
    集成化S參數測試裝置以50Ω(標準)或75Ω(選件075)提供完滿的正向和反向測量。外部測試


裝置由選件011提供。
測試端口輸出