產品品牌：

誼邦電子

產品型號：

YB580x

大功率IGBT全參數自動測試系統 我公司科研人員經過連續技術攻關, 在原有YB6500高端半導體分立器件自動測試系統基礎上, 自行研發出國內首臺igbt測試儀，圓滿解決了功率IGBT等新型半導體器件的全參數測試難題,填補了國內在半導體自動測試領域的空白，該項產品綜合技術指標達到國際水平。 目前我公司提供的該項新產品采用模塊式功放結構, 主極電流400A/500A/1000A/1250A可選, 2500A/5000A選項可以根據用戶需要定制。 該產品可測IGBT參數包括了I_CES, BV_CES, I_GESF, I_GESR, V_GETH, V_GEON, V_CESAT, I_CON,V_F, G_FS,r _CE等全直流參數, 所有小電流指標保證1%重復測試, 大電流指標保證0.5%以內重復測試, 達到目前國外進口同類產品水平。    絕緣柵晶體管、IGBT測試參數及

電參數名稱	電壓范圍	電流范圍	分辨率
ICES    IGESF IGESR	0.10V- 2000V 0.10V - 20V(80V)（2）	100nA(100pA)（1） - 50mA 100nA(100pA)（1）- 3A	1nA(50pA)（1）	1%+10nA+20pA/V (1%+200pA+2pA/V)（1）
BVCES	0.1V-1000V- 1400V - 1600V	100μA - 200mA    -100mA           -50mA	5mV	1%＋100mV
VGETH	0.10V- 20.0V(80V)（2）	100nA- 3A	5mV	1%+10mV
VCESAT ICON VGEON VF GFS(混合參數)	VCE: 0.10V- 5.00V - 9.99V VGE、VF: 0.10V - 9.99V	IC: 10μA-1250A        - 1250A IGE、IF:   100nA - 10A	5mV	V: 1%+10mV IC,IF:  1%+100nA IGE: 1%+5nA

  （1）    需要YB550選件 （2）    需要柵極80V選件   該產品可針對目前封裝的多單元IGBT特征, 根據用戶需要提供4/ 8/ 20單元掃描測試適配器, 從而實現多單元封裝器件的性全參數測試.與進口專用測試系統相比, 該產品可同時對各種功率的其它10-18多類半導體分立器件進行全參數測試, 具有更高的使用效率。與國外同類產品相比, 該產品具有更高的性能價格比和國外廠家不能做到的優質售后服務。     主要特征簡述： ★YB半導體分立器件測試儀是我公司從國外引進的國產化項目。該分立器件測試儀目前已通過國內兩家計量站的綜合檢測認定。經過與國內其他分立器件測試系統對比使用，YB測試系統在系統硬件的可靠性、穩定性、功率范圍、測試范圍、系統測試、測試參數的一致性等多項指標已遠遠超過國內產品。 YB測試系統目前是國內高端的半導體分立器件測試儀器。 ★作為精密儀器引進項目，YB半導體分立器件測試儀系統嚴格按照國軍標產品之標準，全部選用優質可靠的元器件。系統嚴格按照軍用整機檢驗標準進行測試檢驗，確保系統的穩定性和可靠性。YB半導體分立器件測試儀所使用的各種繼電器，全部采用國外公司生產的水銀繼電器，從而大大提高了誼邦系統的測試速度，提高了系統的使用壽命。 ★服務周到是我公司的優勢之一。選用YB半導體測試系統，享受YB電子服務，我們的服務可以在一小時內答復解決方案，到達用戶現場當天解決系統出現的所有問題。 ★YB分立器件測試儀在實際操作中，可真實達到電壓2000V、電流50A的測試條件。在極限值條件下測試，系統同樣保持高和良好的重復性、穩定性。此項指標遠遠于國內其他產品。 ★本分立器件測試系統測試原理和方法符合國家相關規范和標準。 ★大功率器件測試采用脈沖法測試，脈沖寬度為規定的300uS。 ★YB半導體測試系統硬件設計先進，升級能力強。為用戶今后做測試系統升級提供了有力的技術保障。YB元器件測試系統硬件支持電壓升級到5000V，電流升級到1250A。 ★系統采用先進的嵌入式計算機結構，可以實現脫機測試功能。提高了系統的可靠性和使用靈活性。 ★YB分立器件測試系統和YB半導體測試夾具全部采用多級開爾文技術，采用無電纜連接設計結構，保證測試結果準確可靠。各種元器件測試夾具均由器件插座和插頭采用開爾文技術連接裝配，不僅確保長壽命工作，可靠性極高，無故障使用壽命在5X10⁶次以上。使測試數據更加準確無誤。 ★YB半導體測試系統具有被測器件引腿接觸自動判斷功能。遇到器件接觸不良時系統自動停止對被測器件測試，可確保被測器件不受損壞。 ★真正的動態跨導測試。（國內其他元器件測試系統采用直流方法測動態跨導，測試結果與器件實際值偏差很大）。 ★二極管極性自動判別測試功能，不需人工判別極性測試，方便操作。 ★具有單參數測試延時編程功能，用戶可根據不同器件要求選擇延遲時間，增強參數測試穩定性。 ★豐富的WINDOWS界面菜單編程和控制能力，方便的用戶信息文件、統計文件方式，可以給出批次測試失效數量、合格數量，按實測指標分類器件數量。測試結果可以給出excel等多種形式。 ★96個程序步，99種分類。 ★混合參數編程方式（參數測試編程不受器件類別限制），可以對同一器件選用不同類別器件的參數進行編程，大大的擴展系統測試能力，對被測器件進行測試和分析，軟件使用方便靈活。自動/固定量程測試功能，選用自動量程時，系統根據實測范圍自動調整以達到測試。內部設有可選擇的電流型負載和阻型負載。 ★阻型負載：機內設有不同阻值的電阻負載供選擇。 ★電流型負載：機內設有不同檔位的恒流源負載供選擇。 ★用戶可以按照參數要求，自己設定參數自動分檔功能，以便把不同參數的器件自動加以區分、配對提高器件使用價值。 ★高速參數測試和存儲功能，參數分析能力。平均每參數測試時間只有1毫秒。 ★在線系統故障判斷修復能力，便于用戶應急處理排除故障。 ★自檢、自校準功能。系統提供自檢測試程序和夾具。系統故障自動判別到器件級。自校準功能可將系統誤差存入內置計算機，不需人工校準即可實現測試。 ★錯誤信息提示和在線幫助，面板顯示被測器件不合格參數和單步實測參數值。在線幫助是在線提示用戶如何簡便使用該測試系統。 ★測試結果計算功能，系統可以將任意測試程序步的測試結果進行計算，形成新的測試結果，方便用戶進行分析，解決、擴展特殊參數的測試可以將測試程序中任意步的測試結果進行計算，形成新的測試結果，方便用戶對器件進行分析。 ★YB半導體測試系統單步測試功能，用于對單個參數進行測試，同時將測試結果值在前面板上顯示，方便用戶分析。                                                               ★YB半導體測試系統測試結果分檔功能：用戶可以按照參數要求，設定參數自動分檔功能，系統把不同參數的器件自動加以區分、配對，提高器件使用價值。 ★YB半導體分立測試系統機械手、探針臺、多終端、可選掃描、多路陣列擴展測試能力。 ★YB元器件測試系統可進行實時運算，允許測試結果比較與數值計算。 ★功率源選用國際久經驗證的電源線路，結合航天電源設計經驗，在此基礎上形成具有自主產權的功率源發明技術。   ★YB半導體測試系統設計綜合美國、日本多種先進結構技術。 ★承諾確保系統使用壽命可以達到十年以上，系統功能正常，參數指標符合出廠標準。 上述只列出該系統的部分常用特征。其它多種綜合處理能力在使用中可以不斷開發擴大。可根據用戶測試使用的要求，方便地選通其他特征。