- 產品品牌:
- 鄭州匯科
- 產品型號:
- 集成電路測試儀ICT33C+ 可測模擬IC
1.工作原理:prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office"
ICT33c+集成電路測試儀是以器件預期響應法為指導思想,以單片機智能化為結構的多功能測試儀器。它以MCS51單片機為,配合大規模軟件和外圍擴展系統來全面模擬被測器件的綜合功能。儀器的設計基礎立足于這樣的原則:在數字集成電路眾多參數中,邏輯功能是重要,根本,能說明問題的參數。
2.系統主要構成:
(1) CPU:MCS51系列產品89C52;主頻:11.059M。
(2) 程序存儲器:128K EPROM。
(3) RAM緩沖區:128K靜態RAM。
(4) 顯示器:8位液晶顯示器。
(5) 操作鍵盤:20位輕觸式按鍵鍵盤。
(6) 輸出:七只LED+八位液晶顯示+聲音提示。
(7) 機箱:全塑結構機箱。
3.主要參數:
(1) 電源電壓:AC220V±15%,50HZ。
(2) 整機功耗:15VA。
(3) 測試電壓:3.3V,5.0V,9.0,15V。
(4) 編程電壓:12.5V,21V。
(5) 測試腳數:DIP封裝40腳;SOP封裝20腳(須另購適配器)。
(6) 型號輸入位數:3——6位。
(7) 適用溫度:0——40℃。
(8) 測試規范:輸入短路測試;輸出短路測試;100%功能測試。
(9) 輸出高電平VOH:大于2.8V(VT=5.0V)。
(10) 輸出低電平VOL:小于0.7V(VT=5.0V)。
(11) 輸入高電平VIH:大于4.5V(VT=5.0V)。
(12) 輸入低電平VIL:小于0.2V(VT=5.0V)。
4.功能綜述
(1) 器件好壞判別:當不知被測器件的好壞時,儀器可判別其邏輯功能好壞。
(2) 器件型號識別:當不知被測器件的型號時,儀器可依據其邏輯功能來判斷其型號。
(3) 器件老化測試:當懷疑被測器件的穩定性時,儀器可對其進行連續老化測試。
(4) 器件代換查詢:儀器可顯示有無邏輯功能一致,引腳排列一致的器件型號。
(5) 內部RAM緩沖區修改:儀器可對內部緩沖區進行多種編輯。
(6) 微機通訊:儀器可通過串行口接受來自微機的數據或將內部RAM緩沖區的數據傳送到微機。
(7) ROM器件讀入:儀器可將128K以內的ROM器件內的數據讀入并保存。
(8) ROM器件寫入:儀器可將內部緩沖區的數據寫入到128K以內的ROM器件中。
5.適用范圍
ICT33C+具有以下主要用途:
(1) 維修各類電子產品,判斷其集成電路故障。
(2) 破譯被抹去型號集成電路的真實型號。
(3) 燒寫各類EPROM、EEPROM、FLASH ROM、單片機片內ROM。
(4) 開發各類智能電子產品,調試程序。
(5) 檢驗新購器件的質量。
6.測試容量
ICT33C+可測器件包含以下各大系列:
(1) TTL74、54系列。
(2) TTL75、55系列。
(3) CMOS40、45、14系列。
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