- 產品品牌：
- BK
- 產品型號：
- iTEST 芯片測試儀
iTEST 芯片測試儀
iTEST集成以下系統：
數字測試系統
共享資源測試系統，每個管腳有獨立測試資源的測試系統。用來特性化測試集成電路的邏輯功能。
線性器件測試系統
用來測試線性集成電路的測試系統。
模擬測試系統
用來測試線性集成電路的測試系統。
存儲器測試系統
DRAM 測試系統，閃存測試系統。這些類型的自動化測試設備用于驗證內存芯片。
板級測試系統
板級測試是用來測試整塊印制電路板PCBA，而不是針對單個集成電路。
RF測試系統
用來測試射頻集成電路的測試。
SOC測試系統
通常就是一個昂貴的混合信號集成電路測試系統，用來測試超大規模集成電路(VLSI)芯片；并且這種超大規模集成電路(VLSI)芯片的集成度比傳統的混合信號芯片高得多。
綜合測試項目：
| 1、直流輸出電壓 2、直流輸出電流 3、峰對峰值雜訊 4、有效值雜訊 5、暫態電壓 6、電壓穩定度 7、電流穩定度 8、開機時序 9、上升時間 10、下降時間 11、關機時間 12、額外量測 13、浪涌電流測試 14、過沖電壓 15、電源備妥信號（PG） 16、電源失效信號（PF） 17、開啟電源供應器信號 18、輸出上升波形 19、輸出下降波形 20、效率 21、輸入有效值電流 |
22、輸入峰值電流 23、輸入功率 24、輸入功率因數 25、輸入電壓緩升/降測試 26、輸入頻率緩升/降測試 27、輸出電壓順序 28、短路測試 29、短路電流測試 30、過電壓保護 31、過載保護 32、過功率保護 33、擴充量測 34、測試中調整 35、輸入斷電測試 36、輸入電源失真模擬 37、GPIB，RS232讀/寫 38、TTL信號控制 39、繼電器控制 40、條碼讀取 41、動態測試 |
產品實圖：
測試界面
