- 品牌/商標(biāo):JWGB
- 企業(yè)類型:制造商
- 原產(chǎn)地:北京
比表面及孔徑分析儀原理方法: 低溫物理吸附, 靜態(tài)容量法
測(cè)試功能: BET比表面(單點(diǎn)、多點(diǎn))、Langmuir比表面、外表面測(cè)定,BJH(吸、脫附)介孔與大孔孔徑分析, t-圖法微孔總孔體積分析,DR法微孔總孔體積分析HK、FS法微孔分析,CO2微孔分析(DFT),吸附熱測(cè)定, 真密度測(cè)定
比表面及孔徑分析儀結(jié)構(gòu)特點(diǎn): 兩個(gè)獨(dú)立的工作站,一個(gè)具有測(cè)試介孔的功能,另一個(gè)具有測(cè)微孔的功能,在測(cè)試時(shí),兩個(gè)站測(cè)試樣品,可同時(shí)獨(dú)立的進(jìn)行測(cè)試,有兩套液氮杯和兩套加熱系統(tǒng),使用靈活、方便,測(cè)試效率高,國(guó)內(nèi);
比表面及孔徑分析儀真空系統(tǒng): 全不銹鋼真空管路系統(tǒng),設(shè)計(jì)巧妙,限度的減小儀器歧管體積;采用多通路并聯(lián)真空通路和微調(diào)系統(tǒng)技術(shù),使真空抽速可以在2-200ml/s自動(dòng)調(diào)節(jié);特有的防抽飛技術(shù),既可以防止超細(xì)粉體樣品抽飛,同時(shí)使測(cè)試系統(tǒng)在十分鐘時(shí)間內(nèi)達(dá)到的真空度10-6pa
比表面及孔徑分析儀壓力測(cè)試: 采用壓力分段測(cè)量的進(jìn)口硅薄膜電容式壓力傳感器,顯著提高低 P/Po點(diǎn)下的測(cè)試,有利于微孔孔徑分布測(cè)量
比表面及孔徑分析儀壓力范圍: 2x1000torr、10torr、1torr等等
比表面及孔徑分析儀測(cè)試氣體: 氮?dú)狻鍤狻㈦礆狻⒍趸嫉?
比表面及孔徑分析儀測(cè)試范圍: 0.0005(m2/g)--至無上限(比表面積)
0.35nm-2nm(微孔)
2nm-500nm(介孔及大孔)
測(cè)試: ± 1%
微孔可幾孔徑重復(fù)偏差 ≤ 0.01nm
真密度: 氦氣測(cè)試重復(fù)性± 0.015 %,度± 0.03 %;測(cè)試分辨率:0.00001 g/cm3
控制方法: 采用平衡壓力控制技術(shù)(軟件技術(shù)),使壓力控制間隔大大減少,壓力測(cè)試點(diǎn)可高達(dá)1000點(diǎn),同時(shí)采用分段控制法,增加了超低壓控制的,以及吸附點(diǎn)的自動(dòng)控制
脫氣處理: 同機(jī)兩個(gè)預(yù)處理位, 室溫~400℃±1℃,溫度、升溫速度與時(shí)間可單獨(dú)控制,測(cè)試樣品也可同機(jī)原位預(yù)處理
比表面及孔徑分析儀產(chǎn)品特點(diǎn):
1.獨(dú)有的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。
2.真空系統(tǒng)的技術(shù)與創(chuàng)新。
3.壓力精密控制技術(shù)與創(chuàng)新。
4.精密的測(cè)試技術(shù)與創(chuàng)新。
5.Po 的測(cè)試與修正技術(shù)。
6.預(yù)處理系統(tǒng)的設(shè)計(jì)創(chuàng)新。
7.微孔測(cè)試技術(shù)的突破。
8.軟件與分析技術(shù)的主要?jiǎng)?chuàng)新點(diǎn)。
比表面及孔徑分析儀應(yīng)用領(lǐng)域:
吸附劑:(如活性碳,硅膠,活性氧化鋁,分子篩,活性炭,硅酸鈣,海泡石,沸石等);
陶瓷原材料:(如氧化鋁,氧化鋯,硅酸鹽,氮化鋁,二氧化硅,氧化釔,氮化硅,石英,碳化硅等);
橡塑材料補(bǔ)強(qiáng)劑:(如炭黑,白碳黑,納米碳酸鈣,碳黑,白炭黑等);
電池材料:(如鈷酸鋰,錳酸鋰,石墨,鎳鈷酸鋰,氧化鈷,磷酸鐵鋰,鈦酸鋰,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物電池材料,堿錳材料,鋰離子材料,鋰錳材料,堿性材料,鋅錳材料,石英粉,鎂錳材料,碳性材料,鋅空材料,鋅汞材料,乙炔黑,鎳氫材料,鎳鎘材料,隔膜,活性物資,添加劑,導(dǎo)電劑,緩蝕劑,錳粉,電解二氧化錳,石墨粉,氫氧化亞鎳,泡沫鎳,改性石墨材料,正極活性物質(zhì),負(fù)極活性物質(zhì),鋅粉等);
金屬氧化物:(如氧化鋅,氧化鈣,氧化鈉,氧化鎂,氧化鋇,氧化鐵,氧化銅等);
磁性粉末材料:(如四氧化三鐵,鐵氧體,氧化亞鐵等);納米金屬材料(如納米銀粉,鐵粉,銅粉,鎢粉,鎳粉,鋁粉,鈷粉等);
環(huán)保行業(yè):(如顏填料,柱填料,無機(jī)顏料,碳酸鈣,氧化硅,礦物粉,沉積物,懸浮物等);
無機(jī)粉體材料:(如氧化鈦,二氧化鈦等);
納米材料:(如納米粉體材料,納米陶瓷材料等);
稀土,煤炭,水泥,儲(chǔ)能材料,催化劑:(硅藻土),
凈化劑,助濾劑,發(fā)光稀土粉末材料,粉體材料,粉末材料,超細(xì)纖維,多孔織物,復(fù)合材料等粉體和顆粒材料的比表面積及孔徑的檢測(cè)分析,廣泛適用于高校及科研院所材料研究和粉體材料生產(chǎn)企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控.




