- 產品品牌：
- 雷尼紹
- 產品型號：
- LP2D
英國雷尼紹Renishaw 測針系列-坐標測量機掃描測頭
Renishaw坐標測量機掃描測頭
Renishaw的掃描測頭系列產品均為無源傳感器，具有輕巧的機構和分離的光學測量系統，能夠進行快
速的掃描測量。 掃描測頭是每秒可采集數百個表面測量點的微型測量機。坐標測量機軟件可以利
用這些數據提供被測工件形狀、尺寸及位置的相關信息。掃描測頭也可用于采集離散點，與觸發式測
頭類似。
Renishaw掃描測頭獨具特色的輕巧無源機構（無馬達或鎖定機構），具有高固有頻率，適合高速掃描
測量。分離的光學測量系統直接（無需通過測頭機構中的疊加軸）測量探針的變形量，以獲得更高的
和更快的動態響應。Renishaw提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標測量機選用。。
掃描測量提供了從棱柱形工件或其它復雜工件上高速采集形狀和輪廓數據的方法。
觸發式測頭可采集表面離散點，而掃描系統則可獲取大量的表面數據，提供更詳細的工件形狀信息。
因此，在實際應用中如果工件形狀是整個誤差預算的重要考量因素或必須對復雜表面進行檢測，掃描
測量可謂理想之選。
要實現這一功能，就需要一個包括傳感器設計、機器控制及數據分析在內的全新方案。
掃描系統如何采集并分析表面數據？
掃描測頭提供連續的偏移量輸出，與機器位置相結合，從而獲得表面位置數據。進行掃描測量時，測
頭測尖開始與工件接觸，然后沿工件表面移動，采集測量數據。在整個測量過程中，須將測頭探針的
偏移量保持在測頭的測量范圍內。
要想取得測量結果，需要傳感器與機器控制緊密集成，以及先進的濾波運算，以將合成數據轉換
為可用的表面信息。掃描驅動算適用于工件輪廓測量，改變掃描速度使之匹配曲率的變化（表面越
平，速度越快），然后調整數據采集速率（表面變化越快，采集的數據越多）。
