詢價
- 品牌/商標：九州空間
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：北京
- 自動探針臺：該設備是高速、高、高壓型探針機型
- 探針臺：九州空間生產 現貨供應
- 探針測試臺：主要適用于半導體分立元件，光電元件的高壓測試，可遮光測試
JZ-3000型探針臺（全自動控制）JZ-3000型探針臺（全自動控制）采用整體箱式結構，封閉式設計，其主體主要分為四大部分：電氣控制系統，機械運動系統，操作系統，顯示系統。該設備是高速、高、高壓型探針機型，主要適用于半導體分立元件，光電元件的高壓測試，可遮光測試，具有MAP顯示功能。它與測試儀連接后，能自動完成對各種晶體管芯的電參數測試及功能測試。JZ-3000型探針臺（全自動控制）是專為半導體生產廠設計的用于半導體芯片封裝前晶圓測試的生產設備。與相應的測試儀進行訊號通訊就可以組成一套完整的測試系統。JZ-3000型探針臺（全自動控制）裝置的特點是：1） Windows友好界面，動態顯示測試過程；2） 具有探高測試功能3） 手動/自動測試任選4） 自動測試方式靈活多樣5） 設置參數具有掉電保護功能6） 系統幫助與各種提示信息7） 采用X、Y、Z三軸運動結構，保證其控制和工作穩定性。8）操作方法簡單易懂。9）實現了成產過程除上下料以外的全自動測試。10）機身主結構全部采用鑄件，結構緊湊，外形美觀大方， 同時又具有良好的剛性，運行平穩。技術參數:□ 可測片徑：3″、4″、5″、6″□ 顯微鏡：單目顯微鏡，放大倍數0.7X～4.5X□ 工作臺行程：300mm×200mm□ 工作臺速度：200mm/s □ 步進分辨率：0.005mm□ 重復定位：≤5μ□全程綜合誤差：≤25μ□ 步距范圍：0.001～9.999mm□ Z向行程：0～8mm 可調□ θ向調節范圍：±30o□ 測試速度：>14.4K/H□ 漏測指標：≤0.4%□ 外形尺寸：（長×寬×高）900mm×900mm×1650mm□ 重量：260㎏
