瑞士TESA HITE plus D 一維測高儀

一維測高儀產(chǎn)品特點(diǎn)
◆產(chǎn)品本身防水、防油、防塵、可適應(yīng)任何環(huán)境。
◆適合現(xiàn)場及質(zhì)檢室的量檢及抽檢
◆產(chǎn)品本身具有線形補(bǔ)正，可依現(xiàn)場環(huán)境做補(bǔ)正，以提高度，避
免環(huán)境誤差。
◆可提供多種測量，解決一般工具無法測量的問題，一臺本機(jī)即可解決所
有量測問題，是廠里的測量工具
每個樣品都提供下列標(biāo)準(zhǔn)配件
◆1個標(biāo)準(zhǔn)支架 　　　　　　　　　　　　　　　　
◆1個標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)置式直徑5mm的TC球　　　　　　　
◆1個控制件 　　　　　　　　　　　　　　　　
◆1個GV電池包 　　　　　　　　　　　　　　　　
◆1個主體適配器 　　　　　　　　　　　　　　　
◆1條主體EU電纜 　　　　　　　　　　　　　　　04761055
一維測高儀功能
◆可測量孔徑、孔距、高度、臺階、角度、直線度、平面度、垂直度、
平行度徑向跳動、軸向跳動以及二維尺寸。
◆曲面自動找極值點(diǎn)。
◆彩色12位電子柱顯示。
◆聲光信號自動登錄與傳輸數(shù)據(jù)
◆RS232輸出
一維測高儀技術(shù)參數(shù)
◆測量間距：615mm
  應(yīng)用范圍：770mm
◆不垂直度及直線度≤8μm
◆：測量值不確定度（2+3*L） Mm（L被測長度，單位為M）
◆重復(fù)性 ±s=⒔≤1μm
◆測量速度 300mm/s
◆測量力 1.6N±0.25N
一維測高儀控制臺
　　單坐標(biāo)與雙坐標(biāo)測量，單坐標(biāo)及雙坐標(biāo)測量程序的編輯及執(zhí)行帶有公差限制及基本統(tǒng)計功能（平均值、CP值、CPK值等），測量符合ISO1101的垂直度及直線度；測量角度，集成化點(diǎn)陣打印機(jī)；PCMCIA卡讀出器用于存貯測量程序及測量結(jié)果；在打印機(jī)上直接打印A4格式文件；
分辨率　0.0005/0.001/0.01/0.1mm 或　0.00002/.0001/.00/.01/.1m