X熒光光譜儀BXE-50PR是采用能量色散X熒光分析技術（EDXRF），多種同時測量的元素分析儀器， 采用美國Si-PIN探測器。根據用戶的應用要求可配置為從Na到U的任意多種元素。該儀器可 廣泛應用于環保、考古、機械磨損檢驗、半導體檢驗、ROHS指令、金屬部件檢驗、金屬材料 檢驗等行業。專門針對ROHS&WEEE指令使用的標準配置為Pb、Hg、Cr、Cd、Br五種元素，是應對歐盟ROHS&WEEE 指令的理想選擇。

產品特征 * 采用能量色散X熒光分析技術（EDXRF），實現多種元素同時測量。 * 可根據用戶的應用要求配置為從Na到U的任意多種元素。 * 采用多種措施優化光路設計和配置，保證了特征X射線的探測效率。 * 采用50W側窗X射線管，功耗低、壽命長，對輕重元素均有較高的激發效率。 * 基于Windows2000/XP的程序功能豐富，各種圖表和趨勢圖為決策提供直觀的支持。數據可直接輸出到 Excel，便于進行統計分析。 * 備有基于神經網絡模型的經驗系數法建模，非常穩定可靠。

X熒光光譜儀技術規格 X 射線管： 50W側窗x射線管。 高壓電源： 50W（50KV1mA），美國Spellman公司生產。 分析元素種類： 從Mg到U的任意多種元素。 探測器： 美國Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統。 單個樣品測量時間：（含換樣抽真空時間） ≤3～5分鐘。 交流220V供電設備： 1KVA交流凈化穩壓電源。

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