- 產(chǎn)品型號：
- 三維光學(xué)密集點云測量機POS-Ⅰ
產(chǎn)品介紹 采用國際先進的外差式多相頻相移三維光學(xué)測量技術(shù)，達到國際先進技術(shù)水平。與傳統(tǒng)的格雷碼加相移方法相比，測量更高，單次測量幅面更大（130mm到2米）、抗干擾能力強、受被測工件表面明暗影響小，而且能夠測量表面劇烈變化的工件。 產(chǎn)品特點 1、一機多用，可同時掃描測量小型、中型、大型工件。
2、面掃描測量數(shù)據(jù)密集。
3、便攜式流動測量。
4、強大的自動拼接。
5、測量掃描速度快。
6、激光指示器測距。
技術(shù)參數(shù)
| 具體型號 | POS-Ⅰ |
| 工業(yè)相機 | 兩個130萬像素 |
| 單幅面（mm） | 130*100-400*300 |
| 檢測范圍 | 5mm-90m |
