AS-300反射率測試儀器是一款高反射率測試儀器，可測量整體反射率值，反射率光譜。操作方便快捷，適用與偏光片反射率測試，ITO薄膜反射率測試，TouchPannel反射率測試，導(dǎo)光板鍍膜膜厚測試，Low-e玻璃反射率測試，汽車車燈鍍膜膜厚測試 等。
儀器功能：
AS-300反射率測試儀器光譜測量 在波長范圍內(nèi)進行反射度能量的圖譜掃描,并可進行各種數(shù)據(jù)處理如峰谷檢測、導(dǎo)數(shù)運算、譜圖運算等.·數(shù)據(jù)輸出 可進行數(shù)據(jù)文件和參數(shù)文件的存取,測量結(jié)果以標準通用的數(shù)據(jù)文件格式輸出
AS-300反射率測試儀器技術(shù)參數(shù)
波長：0.2nm
校正線性度：99.8%
測量誤差：1%以下
單次測量時間：小100ms
功耗：200W
電源：210~245V，60Hz
信號接口：USB2.0
操作系統(tǒng)：windows
波長范圍：200-1100 nm
數(shù)據(jù)傳輸速率：每4ms 一個全掃描入存儲器(USB2.0 接口 )，18ms（USB1.1）
每300ms 一個全掃描入存儲器(串行口)
探測器：3648 像素的線型硅CCD 陣列 8um × 20um
光柵：14 種光柵，波長從紫外到近紅外
積分時間：10um～65min
入射孔徑：寬5, 10, 25, 50, 100 或200um 的狹縫或光纖(無狹縫)
光纖連接：SMA905 接口，與0.22NA 的單股光纖相連
各類濾波片：長波通或帶通濾波片，安裝在光譜儀內(nèi)
電子控制：8 個數(shù)字GPIO 接口 電子快門控制（短10um）
焦距：42 mm（輸入）， 68 mm（輸出）
光學(xué)分辨率：0.3 nm FWHM（與光柵和狹縫寬度的選擇 有關(guān)）
動態(tài)范圍：2×108（系統(tǒng)），1300:1（單個掃描信號）
AS-300反射率測試儀器主要特點：
·全新設(shè)計的優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng),高性能的全息閃耀光柵,確保了儀器的低雜散光.
·雙光束測光系統(tǒng),配合設(shè)計先進的電路測控系統(tǒng).使儀器具有高度的穩(wěn)定性和
極低的噪聲. 
全自動的控制系統(tǒng),先進的設(shè)計理念,確保儀器具有高可靠性和高穩(wěn)定性.
·可拆卸結(jié)構(gòu)的樣品室設(shè)計,易于更換不同的附件.以滿足不同的分析需求.
·寬敞型開放式光源室設(shè)計,使燈源更換更加方便.
·所有部件均選用進口器件.保證了儀器性能的高可靠性.
·windows 環(huán)境下開發(fā)的中英文操作軟件,具有多項技術(shù).提供了豐富的獨具特色的分析