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上海萊瑟光譜儀器分析技術有限公司

免企業未認證證營業執照未上傳

經營模式：工廠

所在地：上海市

主營產品：直讀光譜儀金屬分析儀,法國輝光放電光譜儀,ICP光譜儀,熱分析儀,X射線衍射儀,數字渦流導電儀,氧、氮、氫聯測儀,紅外定氧儀,X射線熒光光譜儀,電子掃描顯微鏡,便攜式/移動光譜儀,激光光譜儀（LIBS）,ICP-MS,FIB,GPC,COD

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Phenom ProX 的能譜儀EDS是針對臺式電鏡設計的，本著臺式電鏡簡單易用，售后無憂的宗旨，Phenom ProX的能譜儀EDS 系統完全嵌入在電鏡主機中，利用半導體制冷，無需額外冷卻系統。下圖是傳統電鏡能譜儀系統與Phenom ProX的對比圖

Phenom-World電鏡能譜一體化Phenom ProX

快速得到樣品表面形貌和元素含量
步：利用成像模式得到高分辨率的照片，背散射電子給出豐富的成份像，雜質一目了然	第二步：如果需要分析元素含量，瞬間切換到成份分析模式，點擊感興趣的區域，立刻給出定量定性分析元素名稱和含量分布

5kV，10kV，15kV 三檔加速電壓
Phenom ProX提供三檔加速電壓，用戶可根據樣品類型和測試目的，靈活切換
5kV ：血液絕緣體直接觀測模式適合對電子束敏感的樣品	10kV：電路板分辨率模式適合絕大部分樣品	15kV：電路板元素分析模式 X射線特征譜線更明顯

表面形貌和成分信息同時展現
背散射電子的產率、出射角度與樣品成份及表面形貌相關。Phenom（飛納）采用4分割半導體背散射電子探測器，為您提供兩種成像模式，模式之間可迅速切換：
• 成份模式：同時給出樣品表面形貌與成份信息，不同元素可由其灰度對比度的不同加以分辨
• 形貌模式：去除成份信息，樣品表面凹凸起伏等微觀結構更加明晰，適用于表面粗糙度和缺陷分析

成份模式 4分割背散射電子探測器扇區所得的信號相疊加	形貌模式 4分割背散射電子探測器扇區所得的信號相抵消

成份模式圖像包含樣品成份與形貌信息	形貌模式圖像僅突出樣品表面形貌特征

樣品杯，30秒快速成像
Phenom（飛納）樣品杯、低真空設計、的真空封鎖技術，裝入樣品后30秒內即可得到高質量圖像，耗時僅為傳統電鏡的1/10左右。

Phenom（飛納）采用低真空技術，出射電子與空氣分子碰撞產生正離子，正離子與樣品表面累積的電子中和，有效抑制荷電效應的產生，直接觀測各種不導電樣品（如下圖所示）。
利用降低荷電效應樣品杯，更可將開始荷電的放大倍數提高8倍左右，而且不會影響燈絲壽命，下圖頭發示例：

操作簡便，全程導航
	• 自動/手動聚焦	Phenom（飛納）操作界面。通過點擊右側圖標可以輕松完成圖像縮放、聚焦、亮度對比度調節、旋轉等操作。界面右側顯示光學導航和低倍SEM導航窗口，方便用戶在不同樣品、不同區域間進行切換。
	• 自動/手動亮度
	• 自動/手動對比度
	• 自動燈絲居中調節
	• 自動馬達樣品臺
	• 光學/電子樣品導航

			光學導航，所有待觀測樣品盡在視野之中，高倍下準確切換樣品，只需點擊感興趣樣品，即可自動移動到屏幕中央
			低倍SEM照片導航，導航窗口中的彩色矩形框指示了住觀測窗口的觀測區域，點擊感興趣的區域，自動移動到樣品中央。

長壽命/高亮度/低色差 CeB6 燈絲
Phenom（飛納）采用逸出功為2.5eV的CeB6燈絲，其亮度為鎢燈絲的10倍，出射電子色差小，為您提供更高質量的圖像，其使用壽命長達1500小時，為鎢燈絲的10倍，可正常使用1-3年無需更換燈絲，免去了您頻繁更換燈絲的麻煩，保證工作進度。

Phenom（飛納）可以放置在幾乎所有的室內環境當中，無需超凈間。采用燈絲、探測器、樣品臺相對一體化的設計，震動不會引起三者間的相對運動，使Phenom成像不受震動影響，可放置在較高樓層。

Phenom（飛納）擁有遠程檢測功能，通過網絡，工程師可隨時為您遠程檢測系統、答疑解難，為您提供全方位的保護，讓您的Phenom隨時處于工作狀態。

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021-60589358