YQ-GF-PID光伏組件PID測(cè)試系統(tǒng)

一、概述：

 YQ-GF-PID型光伏組件PID測(cè)試系統(tǒng)/電勢(shì)誘導(dǎo)衰減測(cè)試系統(tǒng)是常州宇清電氣科技有限公司自主研發(fā)的，測(cè)試目的：1.評(píng)估光伏組件承受系統(tǒng)偏壓的能力；2.測(cè)試光伏組件承受系統(tǒng)電壓、溫度、濕度等各種應(yīng)力的能力；3.減少和預(yù)防PID現(xiàn)象。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62804 （Draft）。

光伏應(yīng)用越來(lái)越多，電站規(guī)模越來(lái)越大，組件串聯(lián)的數(shù)目不斷增大。這樣，太陽(yáng)能組件承受高對(duì)地勢(shì)能的幾率越來(lái)越大。當(dāng)系統(tǒng)的一端接地時(shí)，距離接地端遠(yuǎn)的組件對(duì)地將產(chǎn)生較高的電勢(shì)，美洲接近600V，歐洲接近1000V。一般來(lái)說(shuō)，泄漏電流是經(jīng)過(guò)封裝材料、鋁邊框或安裝支架流入大地的。泄漏電的大小與電池片材料及工藝、組件材料及工藝、系統(tǒng)安裝方法、環(huán)境溫度、環(huán)境濕度等因素有關(guān)。長(zhǎng)期泄漏電將使電池片載流子及耗盡層狀態(tài)發(fā)生變化、電路中的接觸電阻受到腐蝕、封裝材料受到電化學(xué)腐蝕，從而導(dǎo)致電池片功率衰減、串聯(lián)電阻增大、透光率降低、脫層等影響組件長(zhǎng)期發(fā)電量及壽命的現(xiàn)象。

對(duì)組件來(lái)說(shuō)，泄漏電途徑如下圖所示。

泄漏電的途徑主要經(jīng)過(guò)玻璃（I₁）、EVA 與玻璃的界面（I₂）、EVA（I₃）、背板材料（I₄）和邊框密封材料等到達(dá)邊框。

二、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

1.PID 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)引自 IEC 62804 （Draft） “System voltage durability test for crystalline silicon modules – design qualification and type approval”，基本要求是準(zhǔn)備 3 塊組件。其中一塊作為控制組件，組件置于一定溫度和濕度的環(huán)境中，將組件的內(nèi)部導(dǎo)電體與高壓電源的一個(gè)極連在一起，組件外導(dǎo)電體與高壓電源的另一極連在一起。 一塊組件在正偏壓下進(jìn)行老化，一塊組件在負(fù)偏壓下老化。

2.測(cè)試條件如下：

環(huán)境溫度：60℃±2℃；

環(huán)境濕度：85%±5% RH；

測(cè)試時(shí)間：96 小時(shí)；

測(cè)試電壓：在組件需滿(mǎn)足的正系統(tǒng)電壓下或負(fù)系統(tǒng)電壓下。

3.組件老化前需經(jīng)過(guò)光老化、外觀檢測(cè)、功率測(cè)試、絕緣測(cè)試、接地連續(xù)性測(cè)試（如果組件有外漏導(dǎo)電體），老化后需進(jìn)行濕漏電測(cè)試、功率點(diǎn)測(cè)試、外觀檢測(cè)、絕緣測(cè)試。

具體測(cè)試序列見(jiàn)下圖所示：

三、功能特點(diǎn)：

1.組件邊框端接地，既模擬實(shí)際情況，又防止了測(cè)試過(guò)程中由于邊框高壓引起的潛在危險(xiǎn)；

2.對(duì)于每塊組件，采用4線制測(cè)試方法，2根高壓線，2根接地線，高壓線通過(guò)接線盒與組件內(nèi)部連在一起，接地線與邊框連在一起或連接在其他有效位置；

3.多路電流同時(shí)顯示，報(bào)警參數(shù)單獨(dú)設(shè)置，單路通斷控制；

4.正電源和負(fù)電源的無(wú)弧化轉(zhuǎn)換，模擬系統(tǒng)的正極接地或負(fù)極接地；

5.倒計(jì)時(shí)功能，可設(shè)置測(cè)試時(shí)間，自動(dòng)停止；

6.上位機(jī)記錄測(cè)試中數(shù)據(jù)；

四、參數(shù)配置：

?  設(shè)備型號(hào)：YQ-GF-PID

?  外觀尺寸：640mm*640mm*1500mm

?  電源電壓：-1500V～0V/ 0～+1500V

?  電源時(shí)漂：≤0.3%/h

?  電源溫漂：≤0.5‰/℃

?  電源紋波：≤0.5%

?  電流范圍：1～1000 uA /-1000 uA～-1

?  試驗(yàn)時(shí)間：0～168h

?  絕緣電阻：＞1000MΩ

?  測(cè)試組件數(shù)：可定制

五、軟件介紹：

1.實(shí)時(shí)顯示泄漏電流（微安級(jí)）、泄漏電量、絕緣電阻、組件溫度、濕度等參數(shù)；

2.顯示當(dāng)前測(cè)試和歷史記錄中的泄漏電流 （微安級(jí)）、泄漏電量、絕緣電阻、組件溫度、濕度等曲線； 

3.多路測(cè)試條件單獨(dú)設(shè)置，包括測(cè)試時(shí)間、系統(tǒng)報(bào)警參數(shù)等；

4.所有數(shù)據(jù)可以 Excel 或 Access 表格形式存儲(chǔ)，方便數(shù)據(jù)處理。

六、設(shè)備配置：

機(jī)柜         1 

主機(jī)         1 

記錄系統(tǒng)      1 

控制系統(tǒng)      1

電源         1