Fluke Ti400熱像儀|福祿克TI400|熱成像儀Ti400 技術特點:
Fluke Ti400紅外熱像儀的標準高溫量程升級到1200攝氏度,不用另行加配高溫選件,-20℃至1200℃一氣呵成!滿足更多測量需求。
| 詳細的技術指標 | |
| 溫度 | |
| 溫度測量范圍(-10°C 以下未校準) | -20 °C 至 +1200 °C |
| 溫度測量 | ± 2 °C 或 2 % (處于 25 °C 額定溫度時,取較大值) |
| 屏顯發射率校正 | 是(根據數字和表格) |
| 屏顯反射背景溫度補償 | 是 |
| 屏顯傳輸校正 | 是 |
| 成像性能 | |
| 圖像捕獲頻率 | 刷新率:9 Hz 或 60 Hz(取決于型號) |
| 探測器類型 | 320 x 240 像素焦平面陣列,非致冷型微測輻射熱計 |
| 熱敏度 (NETD) | 30 °C 目標溫度時,≤ 0.05 °C(50 mK) |
| 總像素 | 76,800 |
| 紅外光譜帶 | 7.5 μm 至 14 μm(長波) |
| 可視(可見光)照相機 | 工業性能,500 萬像素 |








