西安雷凱光電專注于對光束質量的檢測研究，針對于不同波長，采用高精微透鏡和不同的CCD傳感器，開發出不同型號的哈特曼波前分析儀。
哈特曼波前測量技術是由科學家哈特曼于1900年，次提出的，R.K.Shak對經典哈特曼光闌做了改進，根據其原理設計的波前傳感器被稱為，Shack-Hartmann波前傳感器。
針對于不同的應用特征，我們開發出一款適用性比較廣的哈特曼波前分析儀，與國際上同類產品相比，可同等數量級。我們可以針對不同的波長，在可見光和近紅外波段，可以為您量身打造您合適用的波前分析儀。
該款波前分析儀具有小巧靈活，能夠提供目前波前分析領域的分辨率和良好的動態范圍。我們自行研發的配套軟件可2D，3D顯示，能的從波前相機采集數據，進行測量，分析。
特點：
微透鏡陣列：50×50；
CCD靶面：14.6×14.6（mm）
測量校準波長：在300～1064（nm）范圍內用戶可選；
測量:典型波長632.8nm,PV為1/10波長； RMS為1/100波長
工作方式：軟件觸發、內同步或外同步
配套計算分析軟件使用
哈特曼波前傳感器計算分析軟件可實時與事后對采集的圖像進行計算分析。根據測試光束的形狀，用戶選取計算模型。方形光斑選取勒讓德（lengender）模型，圓形光斑選取澤尼克（zernike）模型。軟件將計算得到測試光束的波前分布，PV，RMS和像差系數，并實時三維顯示。用戶可以根據自己的需要選擇扣除初級像差系數（傾斜、離焦、像散、慧差和球差），并顯示扣除像差后的波前分布，PV，RMS和像差系數。用戶還可以選擇附加計算分析模塊，得到斯特列爾比（SR），點擴散函數（PSF）和光學調制傳遞函數（MTF）。
特點
♦高空間分辨率，可測量的像素點數量受限于CCD分辨率
♦次與次畸變的波前圖像
♦實時測量+位相和強度同時測量
♦光束質量因子M2性測量，無需額外附件，無需移動部件
♦動態范圍寬，可達1500λ
♦適用波長范圍寬，涵蓋紫外、可見光、近紅外、中遠紅外等波段
♦結構緊湊、使用輕便、
應用群體： 針對高精的科研單位。
