集成電路高溫動態老化系統
★合標準：MIL-STD-883D、MIL-M-38510、G548、G597等試驗標準。
★適用范圍：適用于各種封裝形式的大、中、小規模數字、模擬、數模混合集成電路，包括微處理器、邏輯電路、可編程器件、存儲器、A/D、D/A等器件的工作壽命試驗和高溫動態老煉篩選。
技術特點：
●一板一區，可滿足16種不同試驗參數的器件同時老化。
●強大的圖形發生系統，64路數字和2路模擬可編程信號。
●完善的、種類的老化器件數據庫可供用戶調用。
★技術性能
產品型號 | BIC64-16 | BIC64-8 |
產品名稱 | 集成電路高溫動態老化系統 | |
高溫試驗箱 | PEC產PH-201大容量高溫試驗箱1臺套，內箱尺寸：60cm&tim;60cm&tim;60cm，水平風道設計。 | PEC產LC-213高溫箱一臺，內箱尺寸：45cm&tim;45cm&tim;45cm，垂直風道設計。 |
試驗區域 | 16個（一板一區） | 8個（一板一區） |
試驗容量 | 200&tim;16=320位（以DIP14為例） | 136&tim;8=1088位（以DIP14為例） |
電源 | 8∽16臺25V/40A或40V/25A等規格可選 | 4∽8臺25V/40A或40V/25A等規格可選 |
二級電源 | ◆每個通道提供程控的VCC、VMUX、VCLK、VEE四路二級電源。 ◆每路二級電源具有過壓、欠壓、過流、短路和過熱等保護功能。 ◆輸出能力：&plun;1.00V～&plun;18.00V/10A。 ◆電源監測：實時監測記錄二級電源的電壓，并可生成圖形曲線，便于試驗監控。 | |
數字信號
| ◆每個通道：64路數字信號。 ◆編程能力：編程深度256Kbit；小編程步長：100ns；編程分辨率：100ns；信號頻率：5MHz。 ◆尋址能力：可尋址64Gbit(老化ROM/SRAM等) A00～A35,可尋址行列地址刷新器件64Gbit（老化DRAM/SDRAM等）AXX～A17，A：A00～A17。 ◆信號特性：每路均具有數據、地址、控制、三態屬性編輯功能。 ◆驅動能力：IOL≥300mA、IOH≥100mA、Tr≤50ns、Tf≤50ns。 | |
模擬信號 | ◆模擬信號數：2路 ◆波形類型：正弦波、三角波、前沿鋸齒波、后沿鋸齒波、矩形波。 ◆模擬信號指標：信號可編程頻率：1Hz～32KHz；程控幅度范圍Vpp：0～&plun;10V； 直流偏移量范圍Vdc：0～1/2 Vpp；編程步長: 0.01V；驅動能力：≥1.0A； | |
機 | 工業級電腦主機、液晶顯示器、鍵盤及鼠標。WINDOWS操作界面，友好的人機對話窗口，強大的圖形編輯能力以及強大的器件庫供用戶選擇，軟件操作簡單易學。更有系統查詢診斷功能，試驗狀況一目了然，方便用戶查驗。 | |
要求 | 單相AC220V，6KW | 單相AC220V，3KW |
外形尺寸 | WхHхD：140х188х132（cm） | WхHхD：105х188х112（cm） |
重量 | 約500kg | 約300kg |
