JX-2000顆粒圖像分析儀
　　JX-2000型顆粒圖像分析儀，能準確直觀顆粒形貌，并進行顆粒數據處理，適用于控制分析產品質量。該系統由光學顯微鏡、U攝像機、圖像分析軟件、電腦、打印機等部分組成。
　　一、應用范圍
　　適用于石墨、磨料、陶瓷、碳化硅、硅灰石、金剛石、碳粉、藥粉、涂料、水泥、硬質合金、催化劑、云母粉、填料等各種粉末物料顆粒的形貌觀察和粒度分析。
　　
　　二、性能特點
　　1、工業級攝像頭采集，光學顯微鏡放大成像，圖像快速顯示于電腦，直接觀察顆粒形貌，軟件進行顆粒數據處理。
　　2、測量范圍：0.5μm～3000μm
　　3、全平場消色差物鏡，分辨率0.07微米，光學放大倍數1600倍，打印倍數4000倍（A4幅面）
　　4、提供等面積和等周長兩種基準下的個數、直徑、面積、體積、圓形度等分布數據。同時提供顆粒數、D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等粒度分布數據，配有（30）多種圖像分析和處理功能，可以滿足各種圖像處理需要。
　　5、對采集的圖像進行調整高度、寬度、亮度、對比度、濾波、填充等，分析分辨率，網格標注顆粒尺寸等功能，使測試結果更真實。
　　6、儀器分二種型號，技術原理、參數都相同，JX-2000A型顆粒圖像分析儀配置顯微鏡，JX-2000B型顆粒圖像分析儀配置透反射顯微鏡，后者還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析。
　　7、顆粒形貌圖像可存盤和打印，還可輸出多種格式的測試。另可根據行業要求，設計磨料、硅灰石等軟件。
　　
　　三、圖像分析處理功能
　　1、色調處理：負像、灰度化、色調調整、亮度、對比度調整；
　　2、圖像矯正：水平鏡像、垂直鏡像、90度（逆時針）、90度（順時針）、旋轉、放大、縮小任意比例縮放等；
　　3、測量單位：微米、毫米、厘米、英吋任選；
　　4、圖像增強：對比度均衡、膨脹、腐蝕等；
　　5、圖像處理：圖像銳化，邊緣平滑，二值化，邊界濾波，分析目標擦除、孔洞填充，手工擦除，手工連接，粒子屬性查看、設置標尺、網格等功能；
　　6、分析參數：
　　（1）幾何參數：每個顆粒的質心 X、Y 坐標位置，像素；
　　（2）當量幾何參數：等面積圓直徑，等周長圓直徑，長徑，短徑，長徑比；
　　（3）外接幾何參數：每個顆粒的外接圓直徑；
　　（4）光密度參數：圖像 R、G、B、灰度分布；
　　（5）形態學參數：長徑比，圓度系數；