一、應用領域
　　UTX620是一款經濟、實用、操作簡便的X射線熒光光譜儀，適用于：
　　五金、接插件、電氣連接器電鍍，PCB電鍍，塑料、ABS、鎂鋁合金電鍍；含量普通的合金材料分析。鍍液主鹽分析。
　　檢測電鍍Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等鍍層厚度。
　　電鍍液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的主鹽的濃度。
　　
　　二、產品特點
　　1、分析；
　　2、從K到U的快速元素分析、金屬鍍層厚度檢測；
　　3、測鍍液中含量50g/L的主鹽，測定范圍Ti22-U92；
　　4、可全天候工作，堅固耐用，非實驗室人員亦可操作；
　　5、測量時間短，每個測量10-60秒。
　　
　　三、技術指標
　　產品執行標準  DIN50987，ISO3497，AST568
　　測試原理  EDXRF能量色散X熒光光譜法
　　測量樣品  固體、液體、粉末
　　功能  單鍍層和多鍍層測厚與元素分析
　　  多可分析6層（不包括基層）
　　  鍍液主鹽成份分析
　　高壓發生器
　　輸入電壓  24VDC&plun;10%
　　輸出電壓  0-50kV
　　輸出電流  0-2.0mA
　　輸出  0.01%
　　X射線管
　　X射線管靶材  W靶材
　　X射線管窗口  Be窗
　　電氣參數  50W，4-50kV，0-1000uA
　　冷卻方式  油冷卻
　　X射線照射方向  從上往下↓
　　照射范圍  Φ0.2mm
　　使用壽命  15000-20000h
　　探測器
　　探測器類型  正比計數探測器
　　元素分析范圍  K19-U92
　　分辨率  FWHM<760eV
　　探測窗口  鈹窗，窗口面積：400mm2
　　鍍層測厚與元素分析指標
　　元素分析范圍  K19-U92
　　測厚范圍  0.01—35um
　　層精密度/準確度  相對標準差5%以下（厚度大于0.5um時）
　　相對標準差3%以下（厚度大于8um時）
　　第二層精密度/準確度  相對標準差10%以下（厚度大于0.5um時）
　　測量時間  10-60s
　　譜處理系統
　　處理器類型  全數字化32-bit　DSP
　　譜通道數  256，512，1024，2048可供選擇
　　計數率  大于100000cps
　　能量范圍  1400eV-40960eV
　　時間  <3%
　　光路系統和樣品觀測
　　準直器系統  單一準直器Φ0.2mm
　　對焦系統  鐳射激光對焦
　　樣品觀察系統  300萬像素高清CCD攝像頭，20倍光學變焦
　　樣品室
　　樣品室內部空間  （寬×高×深）：455×185×430mm
　　樣品臺尺寸  （寬×深）：272×308mm
　　樣品臺承載重量  ≤5kg
　　試驗樣品尺寸  寬×高×深：440×170×410mm
　　樣品臺控制方式  簡易手動樣品臺
　　工作臺移動技術數據  X＝200&plun;5、Y＝200&plun;5、Z＝160&plun;5mm
　　工作臺移動  0.02mm
　　軟件  鍍層測厚軟件、元素分析軟件
　　軟件類型  FP基本參數法軟件
　　軟件語言  簡體中文、繁體中文、英文、其它
　　譜顯示  自動峰定性，KLM標記，譜重迭比較
　　譜處理  總強度，凈強度，背景強度；積，凈面積，多元素擬合，高斯擬合
　　資料分析  基本參數，基本譜圖，無標樣測試，峰位修正，底材修正
　　重量和尺寸
　　設備主體尺寸  寬×高×深：W　503×H　635×D　790mm
　　主體重量  約70kg
　　使用環境
　　工作環境  溫度15-25℃，濕度40-70%RH
　　電源系統  單相220V&plun;10%，工作電壓在允許范圍內
　　其它  1.不要靠近產生強磁場，電場，高頻等裝置；2.減少振動3.粉塵少，濕度低，無腐蝕性氣體；4.日光不能直射；5.作為地震的對策，要考慮裝置的固定。