0.1%基本度
測(cè)試頻率可達(dá)200KHz
頻率設(shè)定分辨率達(dá)5 Dis
提供完整的測(cè)試功能
直覺(jué)式人性化操作接口
GPIB界面
無(wú)法拒的功能/價(jià)格比
LCR-6375高LCR測(cè)試儀,提供1MHz寬廣的測(cè)量頻率范圍以及0.1%的基本度。另外,還包括DC電阻測(cè)量以及電壓/電流監(jiān)測(cè)功能,并搭配5.6"LCD可以同時(shí)顯示測(cè)試參數(shù)及結(jié)果。多步驟測(cè)試功能可以針對(duì)同一待測(cè)體執(zhí)行不同參數(shù)的測(cè)量,快速分析待測(cè)體的特性;并且每組編程包括30個(gè)測(cè)試步驟,每個(gè)步驟均可以設(shè)置測(cè)試參數(shù)和限制,執(zhí)行P/Fail判定。圖表模式功能,LCR-6375將以圖表的形式,顯示元器件的阻特性隨著掃描頻率或電壓的變化所呈現(xiàn)的規(guī)律,并以曲線圖的形式顯示結(jié)果。標(biāo)準(zhǔn)配備的GPIB和RS-232C接口,可以用于設(shè)備遠(yuǎn)端控制和讀取測(cè)試結(jié)果。LCR-6375系列豐富的特點(diǎn)讓您的測(cè)試任務(wù)變得更加簡(jiǎn)單而實(shí)用。







