用以測試太陽能級硅材料和硅片的少數載流子壽命
產品特點:
采用微波光電導衰退法;擁有發明;
采用紅外大功率單色激光器;
測試數據一致性好。
主要參數:
測試范圍:單片或塊狀硅材料;擴散形成P-N后的太陽電池
測試方式:無接觸,單點測試
少子壽命:0.1um-1ms
測試速度:2秒/點
測試不重復度:≤2%
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