上市時(shí)間：2009年3月
點(diǎn):1.附帶FP實(shí)際金屬、貴金屬、RoHS分析、無(wú)鹵化塑膠回歸的檢測(cè)曲線，集多種應(yīng)用于一身。該曲線采用大量金屬及貴金屬標(biāo)準(zhǔn)樣品繪制，代表，實(shí)用，準(zhǔn)確度高。分析數(shù)據(jù)可同時(shí)顯示K金值及含量。
2.采用高分辨，高計(jì)數(shù)率，電制冷的SDD檢測(cè)器，實(shí)際分辨率160eV，計(jì)數(shù)率250,000cps，適合高含量樣品的分析。該計(jì)數(shù)器具有性及維護(hù)簡(jiǎn)單，無(wú)需繁瑣而危險(xiǎn)的液氮添加過(guò)程。
3.激光配合CCD攝像機(jī)雙定位，樣品分析點(diǎn)可視，可調(diào)。定位高。分析點(diǎn)的照片可截屏，出具時(shí)可以粘貼在中。
4.分析速度快，可在180秒內(nèi)完成各類樣品的分析任務(wù)
5.可選配狹縫交換器，測(cè)試點(diǎn)的尺寸可調(diào)，由0.2毫米至3.3毫米。可同時(shí)分析同一樣品的各個(gè)部分，一般分析點(diǎn)的尺寸為1毫米。
6.可選配XYZ全自動(dòng)樣品臺(tái)，完成點(diǎn)，線，面掃描。測(cè)量過(guò)程可同時(shí)分別完成多個(gè)樣品的分析。
7.樣品室，可完成樣品的分析，樣品的尺寸可以300*200*150mm（長(zhǎng)*寬*高）。同時(shí)可完成小樣品1mm樣品的分析
詳細(xì)信息儀器簡(jiǎn)介：
在工業(yè)及科研領(lǐng)域，經(jīng)常需要對(duì)樣品進(jìn)行非破壞性的元素分析，同時(shí)對(duì)分析面積及靈敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，貴金屬檢測(cè)等。 黃金珠寶、合金材料及其他金屬的分析要求高，非破壞性而且測(cè)量點(diǎn)小。德國(guó)斯派克分析儀器公司新推出的SPERO MIDEX X 射線熒光能譜儀正是滿足了這一要求，可、準(zhǔn)確地提供分析數(shù)據(jù)。根據(jù)市場(chǎng)要求，德國(guó)斯派克分析儀器公司對(duì)儀器進(jìn)行了擴(kuò)展而優(yōu)化，使SPERO MIDEX 儀器在分析性能和使用靈方面獨(dú)樹(shù)一幟。
SPERO MIDEX 采用空冷、量X射線管和高分辨率的檢測(cè)系統(tǒng)，集準(zhǔn)直、聚焦、樣品激發(fā)于一體，是大的金屬分析儀SPERO MIDEX 適合分析體積很小的金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調(diào)節(jié)的樣品臺(tái)。通過(guò)20倍變焦攝像機(jī)可地確定測(cè)量位置。儀器配有計(jì)算機(jī)和化的軟件，使操作為簡(jiǎn)便。測(cè)量點(diǎn)直徑為0.7mm,樣品的總測(cè)量時(shí)間不過(guò)100秒。在測(cè)定金屬合金中的金含量時(shí),樣品的測(cè)量為0.15%。SPERO MIDEX 也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內(nèi)可完成從鋁到鈾的數(shù)十種元素的分析。
SPERO MIDEX 不適用于珠寶行業(yè)、貴金屬檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)，海關(guān)商檢、造幣工業(yè)等，還可完成其它分析任務(wù)如：非破壞性檢查，貴金屬分選，電子線路及電氣元件的分析等。
技術(shù)參數(shù)：
激發(fā)
- Mo 靶X光管
功率：30W,電壓：48kV
- 測(cè)量點(diǎn)尺寸
Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm
樣品室
- 可顯示樣品的攝像系統(tǒng)(可調(diào)焦)
- 手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品臺(tái)，樣品定位簡(jiǎn)便
- 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)移動(dòng)的XYZ樣品臺(tái)，
行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(寬x深x高)，
樣品重量：3kg/6.6 lbs
檢測(cè)器
- Peltier 冷卻的Si 漂移檢測(cè)器:
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
- 以Mn Kα線，在測(cè)量計(jì)數(shù)率為
10，000脈沖計(jì)數(shù)時(shí)， 能量分辨率：FWHM< 160 eV
- 微處理器控制的檢測(cè)器和讀出電路
- 脈沖計(jì)數(shù)率可達(dá)250，000 cps
分析
- 用于合金元素分析的基本參數(shù)程序FP +
- 塑料及復(fù)合材料的RoHS指令檢測(cè)
環(huán)境條件
- 周圍環(huán)境溫度：5-30°C （41-85°F）
在20-25°C （68-77°F）下，可標(biāo)定儀器性能
- 在 25°C (77°F)下相對(duì)濕度: 10-80 %，無(wú)冷凝，無(wú)蒸氣腐蝕，塵
主要特點(diǎn)：
SPERO MIDEX X射線熒光能譜儀是新推出的第三代產(chǎn)品，不可對(duì)樣品的微小區(qū)域進(jìn)行快速的檢定，還可對(duì)樣品的表面（面積可達(dá)EC標(biāo)準(zhǔn)線路板規(guī)格的2倍， 233x160 mm）進(jìn)行元素分布分析。
點(diǎn):1.附帶FP實(shí)際金屬、貴金屬、RoHS分析、無(wú)鹵化塑膠回歸的檢測(cè)曲線，集多種應(yīng)用于一身。該曲線采用大量金屬及貴金屬標(biāo)準(zhǔn)樣品繪制，代表，實(shí)用，準(zhǔn)確度高。分析數(shù)據(jù)可同時(shí)顯示K金值及含量。
2.采用高分辨，高計(jì)數(shù)率，電制冷的SDD檢測(cè)器，實(shí)際分辨率160eV，計(jì)數(shù)率250,000cps，適合高含量樣品的分析。該計(jì)數(shù)器具有性及維護(hù)簡(jiǎn)單，無(wú)需繁瑣而危險(xiǎn)的液氮添加過(guò)程。
3.激光配合CCD攝像機(jī)雙定位，樣品分析點(diǎn)可視，可調(diào)。定位高。分析點(diǎn)的照片可截屏，出具時(shí)可以粘貼在中。
4.分析速度快，可在180秒內(nèi)完成各類樣品的分析任務(wù)
5.可選配狹縫交換器，測(cè)試點(diǎn)的尺寸可調(diào)，由0.2毫米至3.3毫米。可同時(shí)分析同一樣品的各個(gè)部分，一般分析點(diǎn)的尺寸為1毫米。
6.可選配XYZ全自動(dòng)樣品臺(tái)，完成點(diǎn)，線，面掃描。測(cè)量過(guò)程可同時(shí)分別完成多個(gè)樣品的分析。
7.樣品室，可完成樣品的分析，樣品的尺寸可以300*200*150mm（長(zhǎng)*寬*高）。同時(shí)可完成小樣品1mm樣品的分析
詳細(xì)信息儀器簡(jiǎn)介：
在工業(yè)及科研領(lǐng)域，經(jīng)常需要對(duì)樣品進(jìn)行非破壞性的元素分析，同時(shí)對(duì)分析面積及靈敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，貴金屬檢測(cè)等。 黃金珠寶、合金材料及其他金屬的分析要求高，非破壞性而且測(cè)量點(diǎn)小。德國(guó)斯派克分析儀器公司新推出的SPERO MIDEX X 射線熒光能譜儀正是滿足了這一要求，可、準(zhǔn)確地提供分析數(shù)據(jù)。根據(jù)市場(chǎng)要求，德國(guó)斯派克分析儀器公司對(duì)儀器進(jìn)行了擴(kuò)展而優(yōu)化，使SPERO MIDEX 儀器在分析性能和使用靈方面獨(dú)樹(shù)一幟。
SPERO MIDEX 采用空冷、量X射線管和高分辨率的檢測(cè)系統(tǒng)，集準(zhǔn)直、聚焦、樣品激發(fā)于一體，是大的金屬分析儀SPERO MIDEX 適合分析體積很小的金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調(diào)節(jié)的樣品臺(tái)。通過(guò)20倍變焦攝像機(jī)可地確定測(cè)量位置。儀器配有計(jì)算機(jī)和化的軟件，使操作為簡(jiǎn)便。測(cè)量點(diǎn)直徑為0.7mm,樣品的總測(cè)量時(shí)間不過(guò)100秒。在測(cè)定金屬合金中的金含量時(shí),樣品的測(cè)量為0.15%。SPERO MIDEX 也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內(nèi)可完成從鋁到鈾的數(shù)十種元素的分析。
SPERO MIDEX 不適用于珠寶行業(yè)、貴金屬檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)，海關(guān)商檢、造幣工業(yè)等，還可完成其它分析任務(wù)如：非破壞性檢查，貴金屬分選，電子線路及電氣元件的分析等。
技術(shù)參數(shù)：
激發(fā)
- Mo 靶X光管
功率：30W,電壓：48kV
- 測(cè)量點(diǎn)尺寸
Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm
樣品室
- 可顯示樣品的攝像系統(tǒng)(可調(diào)焦)
- 手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品臺(tái)，樣品定位簡(jiǎn)便
- 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)移動(dòng)的XYZ樣品臺(tái)，
行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(寬x深x高)，
樣品重量：3kg/6.6 lbs
檢測(cè)器
- Peltier 冷卻的Si 漂移檢測(cè)器:
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
- 以Mn Kα線，在測(cè)量計(jì)數(shù)率為
10，000脈沖計(jì)數(shù)時(shí)， 能量分辨率：FWHM< 160 eV
- 微處理器控制的檢測(cè)器和讀出電路
- 脈沖計(jì)數(shù)率可達(dá)250，000 cps
分析
- 用于合金元素分析的基本參數(shù)程序FP +
- 塑料及復(fù)合材料的RoHS指令檢測(cè)
環(huán)境條件
- 周圍環(huán)境溫度：5-30°C （41-85°F）
在20-25°C （68-77°F）下，可標(biāo)定儀器性能
- 在 25°C (77°F)下相對(duì)濕度: 10-80 %，無(wú)冷凝，無(wú)蒸氣腐蝕，塵
主要特點(diǎn)：
SPERO MIDEX X射線熒光能譜儀是新推出的第三代產(chǎn)品，不可對(duì)樣品的微小區(qū)域進(jìn)行快速的檢定，還可對(duì)樣品的表面（面積可達(dá)EC標(biāo)準(zhǔn)線路板規(guī)格的2倍， 233x160 mm）進(jìn)行元素分布分析。
