一、產品
　　GWB−200JA型引伸計標定儀，是一種純機械式的高位移測微儀器。依據JJG762−92引伸計檢定規程要求，專門用于對各類引伸計的標定，也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應百分表、千分表的檢定。
　　結構特點及讀數方式
　　1、本儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結構設計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合，同時配有加長立柱附件，配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣，可以方便地進行多種規格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據自己的測試需要，配置配件進行精密微變形量計量。
　　2、精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數內
　　筒、讀數外筒及螺紋付組成。其量程25㎜；
　　小分度（游標分度）0.0002㎜；旋轉外筒分度0.002㎜。
　　位移變化讀數為：
　　L＝（a＋0.001b＋0.0001c）-（a0＋0.001b0＋0.001c0）
　　其中：a−內筒毫米刻線讀數
　　b−外筒刻線讀數
　　c−游標刻線讀數
　　a0 b0 c0為相應位移變化前讀數
　　
　　精密微分筒
　　二、各項技術指標
　　1、測量引伸計標距范圍Lmax 500㎜
　　2、測量支座上支臂安裝孔徑φ10；φ28
　　3、微分測頭讀數內筒軸向刻度 0.5㎜/格
　　4、微分測頭讀數內筒游標刻度 0.0002㎜/格
　　5、微分測頭讀數外筒園周刻度 0.002㎜/格
　　6、微分測頭指標
　　標定儀示值誤差：
　　量程0.5㎜以內≤0.5μm 誤差
　　量程0.5㎜以上≤0.10%逐點相對誤差
　　參照標準：
　　JJF1096-2002引伸計標定器校準規范
　　ISO9513：1999金屬材料單軸試驗用引伸計標定
　　JJG762-1992引伸計檢定規程
　　可進行0.5級引伸計的標定
　　三、使用說明
　　請依據JJG762−92引伸計檢定規程要求，進行引伸計的檢定：
　　1、根據被檢引伸計的規格型號及測試的試樣規格，選擇與測試試樣基本一致的分離試樣。
　　2、調整兩測量支臂的位置，獲得適宜的檢定空間；調整兩測量支臂上偏心卡簧位置以使兩分離試樣同軸；調整測微頭與下底座的距離，以測微頭的行程。調整好后注意旋緊各個所需固緊部位，在檢定過程中除準許運動位移的部分外，準許有任何滑動或松動。
　　3、引伸計檢定范圍及檢測點的選擇與測試：
　　（1）檢定范圍應根據引伸計需要測試材料的技術參數決定。例如，使用50㎜標距引伸計測試鋼材試樣的σP0.2技術數據，那么請您選擇1㎜的檢定量程。如果測量n值則需要檢定25㎜的檢定量程。
　　（2）對檢定點的選擇，一般每個范圍不少于8點。對于上述選例在1㎜的檢定量程內，檢定10點，即每0.1㎜檢一點。
　　（3）檢定引伸計時用整數刻度倍讀法，不要用游標估算讀數或小數尾數讀數，因為每的十點讀數已造成了讀數的疲勞，估算讀數或小數尾數
　　讀數會加劇測量誤差的產生。而整數單刻線對整讀法清晰簡單準確，出現誤差的機率小，即便出現也會及時發現，因為整數刻度倍讀數的誤差，其引伸計誤差值也會成倍數增加，這種誤差會被很快及時發現。
　　4、加長立柱的使用：在使用基本立柱檢定引伸計時，無法該引伸計的標距空間時，取掉基本立柱上保護帽，將加長立柱主立柱對準V型槽，旋緊上螺絲。要固緊后，方可使用。