TSK-32-16C應(yīng)力測試儀含4個(gè)8通道應(yīng)變采集卡,為32通道,可以進(jìn)行后續(xù)擴(kuò)展。
2、通過U接口連接,能夠在主機(jī)硬盤上存儲(chǔ)長時(shí)間的數(shù)據(jù)。
3、采集信號(hào)為120歐姆應(yīng)變片。
4、采樣率為10KHz(32通道同時(shí)采樣)。
5、操作菜單以對(duì)話框形式,中文界面,簡單快速。
6、結(jié)合國際上應(yīng)變片測試標(biāo)準(zhǔn)Intel標(biāo)準(zhǔn)和-9704標(biāo)準(zhǔn),一鍵全自動(dòng)生成,并判斷“P”or“Failed”
參數(shù):
單模塊通道數(shù):4個(gè)模擬輸入通道
采樣率:320KS/s/機(jī)箱
采樣模式:多通道同步采樣
ADC分辨率:24位
支持應(yīng)變式傳感器電阻值:TSK-32-16C系列支持120Ω,TSK-32-16C系列支持350Ω
支持惠斯通電橋類型:1/4橋
轉(zhuǎn)換:3.5062nV/V/L
增益誤差:0.02%(已校準(zhǔn),常規(guī)測量條件25℃,±5℃)
全量程范圍:±29.4mV/V(+62500uE/-55500uE)
端子間過壓保護(hù):±30V
穩(wěn)定性:增益漂移6ppm/℃
機(jī)箱接口類型:U2.0輸入
供電電源:11到30VDC,220VAC
工作溫度:-40℃~70℃,工作濕度:10%~90%RH,無凝結(jié)
存儲(chǔ)溫度:-40℃~85℃,存儲(chǔ)濕度:5%~90%RH,無凝結(jié)
護(hù)等級(jí):IP 40







