★ X射線發生系統采用了聚光導管
由于采用了X射線聚光導管方式,可得到以往十的X射線強度,從而可以微小樣品的鍍層膜厚測量及有害物質測量的。
★ 無需液氮的半導測器
在進行薄膜測量與有害物質的濃度測量時,高分辨率的檢測器是不可少的,不但可以高分辨率,而且可以實現高計數率。同時,由于使用了電子冷卻方式,所以無需液氮。
★ 能譜匹配軟件
可識別未知樣品與事先存檔的X射線能譜庫中哪一個樣品較為接近的軟件。對識別材料十分。
★ 塊量線軟件(適用于電鍍液分析)
可簡單地測量出電鍍液中主要金屬的濃度。
★ 繪圖軟件(選配件)
將元素面分析的結果進行等高線和色彩使用等視覺處理的軟件。
★ 電鍍液容器(選配件)
★ 各種標準物質(選配件)
膜厚測試儀放射源基本結構。放射源主要由X射線管、陰絲、變壓器、高壓倍壓電路組成。X射線管是密封真空的,它的陰是鎢絲,陽是鎢制成的目標靶。當陰通電時,陰鎢絲由于發熱而產生熱電子,熱電子在高壓作用下產生動能,并以很高的加速度射向陽目標靶形成管電流。當熱電子撞到陽靶時.它的動能就轉換成熱和X射線,穿線管以光子的形式發射出去。
膜厚測試儀標準塊盒。標準塊盒的主要作用是對測厚儀進行校準,由校準的結果得到一組校準曲線。標準塊盒的位置在X射線管的上面,由7個純鋁標準塊組成,每個標準塊由一個電控電磁線圈驅動放人X射線束,通過計算機控制可組成不同的厚度。該測厚儀總的校準范圍為10~500fmi。








