高發光二管測試儀是我公司在研究歐美多種半導體材料檢測技術的基礎上開發的LED測試儀。數據采集電路由美國英特爾（INTEL）公司的微控制內核芯片、美國德州儀器（TI）公司的A／D與D／A轉換芯片及高的恒流與恒壓電路構成，能控制和檢測0.001V和0.1uA大的微小電壓和電流變化；測試過程和數據處理采用計算機控制，是采用WindowsXP平臺的測試儀，度大用單片機或者DOS系統控制的普通檢測儀，測量LED時更能體現其高度、高穩定度的優勢；全中文的windows程序和圖形化的人機界面，使用直觀、方便，不能測試效率，還能根據計算機顯示的IF−VF波形圖對被測材料作的特性分析，是目前國內一款能真正檢測LED LAMP材料閘流體效應并顯示其特性曲線的排測機；本測試儀采用了本公司歷經數年開發的擁有自主知識產權的檢測軟件和新研制的1uA—100mA數控精密恒流電路，其和穩定性均居業界水平，不能滿足LED生產廠家現有的生產需求，還能適應將來的發展要求。
　　本機適用于每支支架20、30顆的共陽或共陰LED LAMP半切材料的小電流壓降、大電流壓降、漏電流、閘流體效應的檢測，還可進行1-50級調節的全點亮目測外觀、反向電壓沖擊試驗。在測試方式上有排測和單個測試兩種方式，檢測到不良二管時用醒目的圖標顏色和聲音指示
　　技術規格
　　
　　（1）小電流壓降（VFL）量程：0.001-10.0V
　　（2）大電流壓降（VFH）量程：0.001-10.0V
　　（3）反向漏電流（IR）量程：1-120UA
　　（4）VFL電流源：10UA-1000UA可調
　　（5）VFh電流源：1MA-100MA可調
　　（6）IR電壓源：0.1-10.0V 可調
　　（7）VR電流源：1-100uA可調
　　（8）閘流體電流源：0-500uA
　　（9）閘流體電壓源：0-10.0V
　　（10）全點亮系數：-50 50級可調（靜態、動態）
　　（11）電流沖擊：1-100MA，1-255毫秒可調
　　（12）顯示方式：20顆材料三組數據同步顯示
　　（13）顯示：4位（V）3位（uA）
　　（14）電壓分辨率：0.001V
　　（15）電流分辨率：0.1uA
　　（16）機軟件：全中文WindowsXP界面操作程序
　　（17）機硬件：IBM兼容PC或工控計算機
　　（18）數據采集板：Intel微指令程控高保護電路
　　（19）電源供給：160V-240V 50Hz
　　
　　注意：測試系統須接地！