X-熒光鍍層測厚儀CMI900／950金屬鍍層厚度的測量
CMI 900／950系列X射線熒光測厚儀是一種大的材料涂／鍍層測量儀器，可應用于材料的涂／鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現了對CMI900／950主機的自動化控制。
技術參數：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀，在技術上一直以來都于的測厚行業
A、CMI 900能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體，薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定多5層、15種元素。
B、度于世界，到0.025mil（相對與標準片）
C、數據統計功能允許用戶自定義多媒體分析格式，以滿足您特定的分析格式要求；
如在分析中數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D、統計功能提供數據平均值、誤差分析、值、小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X-bar／R圖等多種數據分析模式。CMI900／950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E、可測量任一測量點，小可達0.025x0.051毫米
樣品臺選擇：
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用。
CMI 900／950系列X射線熒光測厚儀是一種大的材料涂／鍍層測量儀器，可應用于材料的涂／鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現了對CMI900／950主機的自動化控制。
技術參數：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀，在技術上一直以來都于的測厚行業
A、CMI 900能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體，薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定多5層、15種元素。
B、度于世界，到0.025mil（相對與標準片）
C、數據統計功能允許用戶自定義多媒體分析格式，以滿足您特定的分析格式要求；
如在分析中數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D、統計功能提供數據平均值、誤差分析、值、小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X-bar／R圖等多種數據分析模式。CMI900／950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E、可測量任一測量點，小可達0.025x0.051毫米
樣品臺選擇：
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用。
