產品介紹：
大多數(shù)半透明的或者光吸收的薄膜可以被快速的的測量：氧化物、氮化物、光刻膠、聚合物、半導體材料（Si、aSi、PolySi）、復合硅材料（AlGaAs、InGaAs、CdTe、CIGS）、硬膜（Paralene、PMMA、Polyamides）、金屬薄膜等等。
技術指標：
■厚度范圍：5nm-800μm
■波長范圍：200nm-5000nm
應用范圍：
■太陽能電池薄膜應用：aSi、TCO、GIGS、CdS、CdTe-全太陽能電池堆疊測量
■LCD、FPD應用：ITO、Cell Gaps、Polyamides
■光盤：介質濾光片、硬涂層、反射涂層
■半導體：Oxides、Nitrides、OLED stack
■200nm氧化層厚度的100個測量值
■實時測量及分析：多層的，不同薄厚的，和非均勻涂層
■可擴展材料庫（過500中材料）：Cauchy、Tauc-Lorentz、Cody-Lorentz、EMA等等
產品特點：
■使用靈活：桌面或固定式，在線研發(fā)等
■測量：厚度、光學常數(shù)、表面粗糙度
■生產準備：后臺刻度校準、操作員/工程師界面、■靈活的系統(tǒng)配置。連接層和材料、多種樣品檢測、動態(tài)測量和批量處理
■CdS/GIGS堆疊測量結果匹配VS數(shù)據(jù)產生
