TR518FE是德律科技繼成功推出TR518F之后，云用更之組件及軟體技術所開發之新一代機種。其主要特性在于測試速度較傳統于I快一。此外，更具有可程式化開短路學習模式設定，滿足各種不同待測物之測試特性。對于高針點的產品或大批量之制程，無疑是一臺抵兩臺的選擇，無論在設備本身或治具投資上均可因此而大大降。
　　
　　視窗版作業環境、人性化界面設計、操作簡易電腦自動學習并自動產生，開/短路、Pin Information及IC 保護二體之測試程式電腦自動隔離點選擇功能，自動判斷信號源及信號流入方向可網路連線，并結合資料庫管理及測試站監控程式完整測試統計資料及報表產生，且自動儲存，不因斷電而遺失數據系統具自我針斷功能及遠端遙控功能 Board View功能可即時顯示不良元件、針點之位置，方便檢修高科技半導體CMOS Switching設計，無壽命限制，待測物性操作界面可以壓床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式大型主機設計，高密度SwitchingBoard，可達3584測試點可加裝調整裝置具動態調整功能多重性設計。
　　
　　確實保障操作人員引進TestJet Technology技術，檢測SMT元件開路空焊問題，效果應用IC Clamping Diode技術，可輔助檢測 BGA 開路空焊問題輔助學習模組可檢測IC反向問題漏電流量測方式可輔助檢測電容性達50-60%選項大，可針對不同之測試需求，加裝如頻率量測、電壓量測、電流量測具備1MHz信號源，可量測小電容小電感具三點量測模式，可量測電晶體FET、SCR等元件，并可對 Photo-Coupler提供四點量測，確實檢測上述元件之反插問題具Pin Conta檢查功能