產品特點:
◆的可編程結構光柵(PSLM)使用軟件即可對光柵的周期進行調制。取消了機械驅動及傳動部分,大大了設備的及適用范圍(檢測高度可達&plun;1200um),避免了機械磨損和維修成本。
◆通過全色白光的相位調制,提供了的檢測分辨率(0.37um),4至8次不同相位的采樣,檢測準確性和的重復性,全色白光源對被測線路板的顏色沒有局限;配合高的絲桿
和導軌的檢測效果。
◆同步漫反射光(DL)的使用錫膏檢測中陰影部分的影響。結合RGB二維光源處理高對比度的基板。如黑色基板,陶瓷基板等。并提供2D/3D彩色的錫膏圖片。
◆幀數的4像素工業CCD對小型元件及高密度貼裝(01005)進行穩定快速的檢測。提供
10um,12um,15um,18um,20um等多種不同的檢測。配合客戶的產品多樣性和檢測速度的要求。
◆PSLM的特點提供了對PCB的翹曲變化進行Z軸實時動態跟蹤,柔性線路板和PCB翹曲問題。
◆采用雙光源選擇(紅光和白光)照射Mark,使得Mark的相似度更高,能夠更準確找到Mark,增強了檢測結果的準確性和可信性。
◆Gerber數據轉換及導入,實現全板自動檢測。手工編程功能方便使用者在無Gerber數據時的編程及檢測,友好簡潔的操作界面,實現五分鐘編程一鍵式操作。
◆可檢測高度由傳統的&plun;350um增加到&plun;1200um,不可以檢測錫膏,也適用于紅膠和黑膠等不透明物體的檢測。
◆強大的過程統計軟件(SPC),提供豐富的工具,方便使用者實時監控生產中的問題,減少由于錫膏印刷不良造成的缺陷,從而的產品質量。
◆適用小于480×450mm電路板的錫膏檢測,可在電子產品生產制造中廣泛使用,對應產品類別有:手機、數碼產品、電視、影音電器、電腦配件、汽車電子、電子、LED等。
技術參數
◆測量原理:3D 可編程結構光柵相位調制輪廓測量技術(3D 白光 PSLM PMP)
◆測量項目:體積,面積,高度,XY偏移,形狀
◆檢測不良類型:漏印、少錫、多錫、高度偏高、高度偏低、連錫、偏位、形狀不良。
◆:XY Position:10um;Height:小于1um
◆重復:Height:<1um(4σ);Volume:<1%(4σ)
◆檢測重復性:Gage R&R<<10%
◆檢測速度:2,600 mm2/sec
◆照明光源:紅綠藍(RGB)
◆Mark點檢測時間:1 sec/pcs
◆測量高度:&plun;350um(Standard);&plun;1200um(Option)
◆彎曲PCB測量高度:&plun;5mm
◆小焊盤間距:100um(on 150um solder paste height)
◆小測量大小:長方形(Rectangle):150um;圓形(Circle):200um
◆PCB尺寸:450 x 480 mm
◆PCB傳送方向:L to R;R to L
◆工程統計數據:Histogram;Xbar-R Chart;Xbar-S Chart;CP&CPK;%Gage Repeatability Data;SPI Daily/Weekly/Monthly Reports
◆讀取檢測位置:Support Gerber Format(274x,274d)Format;Teach by Manual
◆操作系統支持:Windows 7(64 bit)Profesional
◆設備規格:1000 x 1000 x 1530 mm(no incl.Signal Tower);865 KG







