M-service鏡面檢測儀
2054-CIL
2054-CIL系列測量顯微鏡標(biāo)配有同軸以及側(cè)向照明裝置。同軸照明的優(yōu)點將在本頁的應(yīng)用示例中闡明。是在鍍鉻的、鏡面表面上常常不能借助側(cè)向照明證實表面結(jié)構(gòu)。只有借助直接從物鏡射出的光才能完成檢查。使用標(biāo)準(zhǔn)底座的2054-CIL顯微鏡提供40的放大倍數(shù)。與MST 支架組合后也可以使用2倍物鏡。在軋輥上只能借助MST支架使用顯微鏡。附加的側(cè)向照明可以實現(xiàn)例如印刷品上的網(wǎng)點檢查與測量。同樣也可以使用數(shù)碼相機(jī)，比如帶有U相機(jī)的附加設(shè)備。通過裝有兩節(jié)1.5 伏小型電池的小型電池盒為同軸照明進(jìn)行供電。
2034-CIL-300-ZX
2034-CIL-300-ZX 系列測量顯微鏡是深度測量的理想助手。通過幾乎無間隙的同軸移動可以對聚焦面進(jìn)行的調(diào)焦。為了這一目標(biāo)，對2034系列顯微鏡鏡體進(jìn)行了改良。使用成套的 30物鏡，相當(dāng)于300倍放大倍數(shù)，可以微小的景深，而這正是加工所需要的。當(dāng)然也可以使用這種顯微鏡進(jìn)行普通的長度測量。長度測量以及數(shù)碼測量儀上刻度的小分度為1微米（μm）。刻度的測量長度為0.2毫米，對角線的視域為0.48毫米。取得測量結(jié)果的重要條件：從各自一端對上方與下方的聚焦面進(jìn)行調(diào)焦。只有這樣才能微小的反轉(zhuǎn)測量失真。直接通過物鏡的同軸照明在這里也有重要的作用。只有借助該照明光才能識別聚焦面。測量顯微鏡可以選擇配帶 MKH和MST支架進(jìn)行供貨。MKH支架適用于平面材料的測量。如要在軋輥或彎曲物體上進(jìn)行測量，以及在使用其他物鏡進(jìn)行視覺檢查時，須使用MST 支架。原因：否則目標(biāo)距離太小。無法使用數(shù)碼相機(jī)與深度測量儀的組合。然而借助 U相機(jī)也可以將測量顯示在便攜式電腦或PC的屏幕上。可以選擇購買帶有 Maglite的鋁制燈具支架。
刻度盤：可以購買圖示的測量刻度盤，其直徑為26毫米（1975）和35毫米（1983）。從中可以在下列測量放大鏡中使用：刻度盤1975所適用的放大鏡訂貨編號：1975，1976，1998，1999和2015.刻度盤1983 所適用的放大鏡訂貨編號：1983，2028，2004和2049.在訂貨編號旁標(biāo)明了各自的放大倍數(shù)。供貨的顯微鏡配置有左上圖示的標(biāo)準(zhǔn)刻度盤。可以將其作為備件單獨供貨。可以按其所匹配放大倍數(shù)訂購中間與右邊的刻度盤。訂貨編號上有說明。第二排中的兩個刻度盤適用于2034、2054、2054-EIM和2054-CIL系列顯微鏡。左邊的刻度盤是成套裝備中的一件，可以另外作為備件進(jìn)行供貨。而右邊的刻度盤可以使用20 倍與40倍兩種放大倍數(shù)。注意：帶20倍放大倍數(shù)的2054-CIL 顯微鏡須使用MST支架。
2054-CIL
2054-CIL系列測量顯微鏡標(biāo)配有同軸以及側(cè)向照明裝置。同軸照明的優(yōu)點將在本頁的應(yīng)用示例中闡明。是在鍍鉻的、鏡面表面上常常不能借助側(cè)向照明證實表面結(jié)構(gòu)。只有借助直接從物鏡射出的光才能完成檢查。使用標(biāo)準(zhǔn)底座的2054-CIL顯微鏡提供40的放大倍數(shù)。與MST 支架組合后也可以使用2倍物鏡。在軋輥上只能借助MST支架使用顯微鏡。附加的側(cè)向照明可以實現(xiàn)例如印刷品上的網(wǎng)點檢查與測量。同樣也可以使用數(shù)碼相機(jī)，比如帶有U相機(jī)的附加設(shè)備。通過裝有兩節(jié)1.5 伏小型電池的小型電池盒為同軸照明進(jìn)行供電。
2034-CIL-300-ZX
2034-CIL-300-ZX 系列測量顯微鏡是深度測量的理想助手。通過幾乎無間隙的同軸移動可以對聚焦面進(jìn)行的調(diào)焦。為了這一目標(biāo)，對2034系列顯微鏡鏡體進(jìn)行了改良。使用成套的 30物鏡，相當(dāng)于300倍放大倍數(shù)，可以微小的景深，而這正是加工所需要的。當(dāng)然也可以使用這種顯微鏡進(jìn)行普通的長度測量。長度測量以及數(shù)碼測量儀上刻度的小分度為1微米（μm）。刻度的測量長度為0.2毫米，對角線的視域為0.48毫米。取得測量結(jié)果的重要條件：從各自一端對上方與下方的聚焦面進(jìn)行調(diào)焦。只有這樣才能微小的反轉(zhuǎn)測量失真。直接通過物鏡的同軸照明在這里也有重要的作用。只有借助該照明光才能識別聚焦面。測量顯微鏡可以選擇配帶 MKH和MST支架進(jìn)行供貨。MKH支架適用于平面材料的測量。如要在軋輥或彎曲物體上進(jìn)行測量，以及在使用其他物鏡進(jìn)行視覺檢查時，須使用MST 支架。原因：否則目標(biāo)距離太小。無法使用數(shù)碼相機(jī)與深度測量儀的組合。然而借助 U相機(jī)也可以將測量顯示在便攜式電腦或PC的屏幕上。可以選擇購買帶有 Maglite的鋁制燈具支架。
刻度盤：可以購買圖示的測量刻度盤，其直徑為26毫米（1975）和35毫米（1983）。從中可以在下列測量放大鏡中使用：刻度盤1975所適用的放大鏡訂貨編號：1975，1976，1998，1999和2015.刻度盤1983 所適用的放大鏡訂貨編號：1983，2028，2004和2049.在訂貨編號旁標(biāo)明了各自的放大倍數(shù)。供貨的顯微鏡配置有左上圖示的標(biāo)準(zhǔn)刻度盤。可以將其作為備件單獨供貨。可以按其所匹配放大倍數(shù)訂購中間與右邊的刻度盤。訂貨編號上有說明。第二排中的兩個刻度盤適用于2034、2054、2054-EIM和2054-CIL系列顯微鏡。左邊的刻度盤是成套裝備中的一件，可以另外作為備件進(jìn)行供貨。而右邊的刻度盤可以使用20 倍與40倍兩種放大倍數(shù)。注意：帶20倍放大倍數(shù)的2054-CIL 顯微鏡須使用MST支架。
