計系統中反射結構,反射光干擾成像光線,從而使成像更清晰、視場襯度更好。
■提供穩定的操作機構,使成像更清晰,操作更簡便。
■顯微鏡體采用的人機工程學設計,結構勻稱,實現鏡體擴展積木化。
■工作臺、光強與粗微調的低位操作,了使用的舒適性。
■廣泛應用于各類半導體硅晶片檢測、材料科學研究、地質礦物分析及精密工程等學科領域。
其他說明
| 光學系統 | 有限遠色差校正光學系統 |
| 觀察筒 |
鉸鏈式雙目,30°傾斜,360°旋轉,瞳距調節范圍:54-75mm, 雙邊&plun;5屈光度可調;鉸鏈式三目,固定式分光比, 雙目:三目=80%:20% |
| 目鏡 | PL10X高眼點平場目鏡,線視場 18mm |
| 物鏡 | 長工作距平場消色差金相物鏡5X、10X、20X、50X |
| 偏光系統 | 簡易偏光 |
| 轉換器 | 內定位四孔轉換器 |
| 調焦機構 |
粗微調同軸,帶機械上限位和松緊調節裝置, 粗調行程28mm,微調0.002mm |
| 載物臺 |
雙層機械移動平臺,附設180X145mm平板平臺, 移動范圍:76mmX50mm |
| 照明系統 |
反射式柯拉照明,自適應寬電壓90V-24V,6V/30W鹵素燈, 光強連續可調,帶可變孔徑光闌與視場光闌,視場光闌中心可調。 |
| 攝影裝置 | 攝影接筒(帶PK卡口),3.2X攝影目鏡 |
| 攝像裝置 | 0.35X/0.5X/1.0X C型攝像接筒 |
| 其他可選功能 | 6V30W照明系統內定位五孔轉換器 |







