PhaseView公司的MicroPhase-DCM200數碼共聚焦顯微鏡可以率的觀察和測量各種工業生產與研究、、考古學和刑偵學等不同領域中出現的的，有學意義的敏感表面。
一個精密的數碼共聚焦模塊連接到您使用的光學顯微鏡，它以30幀每秒的縱向掃描方式，采集和測量您的樣品表面顯微形貌，從而得到一個的，三維的，高分辨率顯示的黑白或真彩色表面形貌圖。
易于使用的軟件提供許多分析選項，包括粗糙度和波紋度測量，臺階高度評價和顆粒分析等等。用戶自定義的試驗可以把圖像和各種測量結果結合在一起，將大大擴展您的研究空間，增加您的工作效率。
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易于使用的軟件提供許多分析選項，包括粗糙度和波紋度測量，臺階高度評價和顆粒分析等等。用戶自定義的試驗可以把圖像和各種測量結果結合在一起，將大大擴展您的研究空間，增加您的工作效率。
