◆沿用美國成熟的X熒光技術
◆集成FP法,Alpha系數法,經驗系數法
◆可生成各種人性化的測試
◆軟硬結合的設計
◆操作簡便,一鍵式操作設計
◆智能軟件自動設定參數和濾光片
◆兩分鐘快速分析樣品
◆多種語言的操作系統
◆溫保護,載保護
◆無須和耗材
二、技術規格
◆探測器:美國Amptek Si-PIN探測器,脈沖分析系統
◆高壓電源:50W(50KV/mA)美國Spellman公司生產
◆X射線管:50W側窗X射線管
◆能量分辨率149ev
◆分析元素:從Na-U任意當中元素
◆測量時間:60-300S
◆測量含量范圍:2PPM−99.99%
◆交流220V供電設備:1KVA交流凈化穩壓電源
◆工作溫度:10−30℃
◆相對濕度:<70%
◆測量條件:大氣環境




