系統(tǒng)技術(shù)優(yōu)勢
　　TDLAS技術(shù)：TDLAS技術(shù)是一種高分辨率吸收光譜技術(shù)。與傳統(tǒng)紅外
　　光譜技術(shù)不同，其采用的半導(dǎo)體激光光源的光譜寬度遠(yuǎn)
　　小于特定氣體吸收譜線的寬度，避免了背景氣體間的交
　　叉干擾。
　　終生無需校準(zhǔn)：LasIR分析控制器內(nèi)置特定氣體參比池，通過對參比池的實(shí)
　　時(shí)監(jiān)測，動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)TDL的電流和溫度輸入，使得LasIR
　　系統(tǒng)總是“鎖住”特定氣體的吸收譜線，因此系統(tǒng)不存
　　在漂移問題，前期安裝調(diào)試完畢后，用戶無需對系統(tǒng)進(jìn)
　　行定期的標(biāo)氣校準(zhǔn)，是真正的免維護(hù)系統(tǒng)。
　　LasIR氣體分析系統(tǒng)采用氣體直接吸收測量的方式。依據(jù)Beer-Lambert定律：
　　I（v）＝I0（v）exp［-S（v）φ（v）Pabs　C　L］
　　C（濃度）＝-ln　I（v）/I0（v）/-S（v）φ（v）PabsC　L
　　I（v）—光強(qiáng)
　　I0（v）——入射光強(qiáng)
　　因?yàn)榧す鈧鬏敼饴分械姆蹓m或視窗污染造成的入射光與光的光強(qiáng)減弱是等比例的，因此通過我們的除法運(yùn)算以及光譜掃描技術(shù)消除了粉塵和視窗污染的影響。
　　一機(jī)多點(diǎn)監(jiān)測：
　　由于系統(tǒng)采用光纖分布技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)一臺(tái)分析控制器多同
　　時(shí)監(jiān)測16個(gè)現(xiàn)場需監(jiān)測點(diǎn)。不同與其他采樣分析系統(tǒng)電磁
　　閥多路切換技術(shù)，LasIR系統(tǒng)是真正的同時(shí)現(xiàn)場多點(diǎn)監(jiān)測。
　　檢測范圍寬：
　　LasIR氣體分析系統(tǒng)可以在ppb～%范圍內(nèi)進(jìn)測，其他氣測系統(tǒng)無法與其比擬。真正適合于工業(yè)流程氣體的監(jiān)測。
　　遠(yuǎn)距離光程開放式：
　　開放式光學(xué)系統(tǒng)光程可達(dá)1000米，實(shí)現(xiàn)環(huán)境空氣監(jiān)測中低檢測下限要求。