RDL系列雷達物位計是基于雷達測距原理的物位測量產品。該儀表具有穩定性高、測量高、應用場合廣泛等優點。相比其它原理的儀表而言，RDL系列產品更是具有受所測物料的介電常數變化及密度變化影響小、粉塵、霧氣的特點。
雷達物位計天線發射窄的微波脈沖，這個脈沖以在空間傳播，遇到被測介質表面，其部分能量被反射回來，被同線接收。發射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質表面的距離成正比，從而計算出天線到被測介質表面的距離。
RDL系列儀表可使用液晶調試/顯示模塊，支持現場調試，支持Hart通信協議、Foundation Fieldbus總線、Profibus PA總線。其中液晶調試/顯示模塊具有調試和顯示的雙重功能，無需使用任何外圍輔助設備，使用戶能夠直觀地讀取、設置所需的各項數據。
雷達物位計天線發射窄的微波脈沖，這個脈沖以在空間傳播，遇到被測介質表面，其部分能量被反射回來，被同線接收。發射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質表面的距離成正比，從而計算出天線到被測介質表面的距離。
RDL系列儀表可使用液晶調試/顯示模塊，支持現場調試，支持Hart通信協議、Foundation Fieldbus總線、Profibus PA總線。其中液晶調試/顯示模塊具有調試和顯示的雙重功能，無需使用任何外圍輔助設備，使用戶能夠直觀地讀取、設置所需的各項數據。
