LIRI-2006型顯微圖像分析系統是我公司研制的一種圖像法顆粒分析儀器。它是傳統的顯微鏡法與現代的圖像處理技術相結合的產物。它的基本工作流程是通過數字攝象機抓拍顆粒在顯微鏡下的圖像并傳輸到計算機中，通過的顆粒圖像分析軟件對圖像進行處理與分析，經顯示器和打印機顯示和輸出分析結果。本儀器具有直觀、準確、測試范圍寬等特點，不可以直接觀察到顆粒形貌，還可以計算出每個顆粒粒徑和圓形度以及粒度分布和圓形度分布，為科研、生產領域增添了一種新的粒度測試手段。
　　一、基本參數
　　測試范圍：1-3000微米；
　　顯微鏡：中外合資光學顯微鏡（可選配其他種類顯微鏡，如顯微鏡、金相顯微鏡等）；
　　數字攝像機：192萬像素；
　　光學放大倍數：1600倍；
　　分辨率：0.1微米/像素；
　　重復性誤差：<3%（不包含樣品制備因素造成的誤差）。
　　二、儀器組成與圖像分析原理
　　儀器組成：
　　LIRI-2006型顯微圖像分析系統包括粒度分析軟件、數字攝像機、顯微鏡、電腦、打印機等組成部分。
　　分析原理：
　　通過對顆粒數量和每個顆粒所包含的像素量的統計，計算出每個顆粒的等效面積圓和等球體積，從而得到顆粒的等效圓面積直徑和等球體積直徑以及圓形度等參數，再對的顆粒進行分級統計，從而得到粒度分布、圓形度分布等信息。
　　三、軟件功能
　　圖像處理功能：
　　對圖像進行灰度轉換，二值化，分割，刪除，剪切，粘貼，縮放，填充等一系列處理，得到顆粒清晰的黑白二值化圖像。
　　數據處理功能：
　　通過對圖像進行處理，測量軟件自動統計出顆粒個數，然后計算每個顆粒所包含的像素數，得出顆粒的面積、等效直徑、等效周長、實際周長、圓形度等參數。通過粒度分級，得到用戶需要的粒度分布表和分布圖以及d10、d50、d90等典型參數，并可根據需要選擇個數分布或體積分布。
　　軟件輸出項目：
　　包括原始數據（樣品信息和測試信息）；分析數據（粒度分布表/粒度分布圖）；圖形（頻率分布直方圖和累計分布曲線）；典型結果（中位徑，平均徑，圓形度等）。
　　輸出功能：
　　可以打印原始圖像和多種測試，包括粒度，圖像，圓形度以及粒度和典型圖像的綜合。
　　四、適用領域
　　研磨材料：白剛玉、金剛石、碳化硅、碳化硼、氧化鈰等；
　　電池材料：石墨、鈷酸鋰等；
　　其他：可用來觀察各種非金屬粉、金屬粉以及其他粉體。