Panametrics MG2系列
Panametrics® MG2系列是一些小巧、經濟的聲測厚儀,其主要用戶為負責測量有內部腐蝕的管道、箱罐容器和其它金屬構件的剩余厚度的檢測人員和維護工程師。這些測厚儀具有輕便且合人體工程學的單手操作設計,為許多需要對疑為金屬壁變薄的材料所進行的快速檢測應用,提供
了性價比高的測量解決方案。
Olympus是世界的型、高質量聲檢測儀器的生產商。我們認為我們的客戶應該享用真正具有質量好、高、操作簡便且價位適中的測厚儀。我們生產的3款堅固耐用的測厚儀可滿足客戶的期望:Panametrics®MG2型儀器、Panametrics® MG2-XT
型儀器,以及Panametrics® MG2-DL型儀器。每款儀器都具有許多實用的測量功能,可解決在厚度測量過程中出現的各種各樣的問題。
特色
- 從工件的一側測量:聲測厚儀從材料的一側發射聲
波,無需切開材料被腐蝕的部分,即可進行數字化測量。 - 袖珍輕便:這些手持式測厚儀小巧輕便,可被放置于工具箱或口袋中。它們是快速測量材料中難于接觸到的區域的理想的測厚儀。
- 直觀的彩色鍵盤:操作簡易省時,可以直接訪問許多重要的測量功能。按鍵根據不同的功能被分組、標色,便于用戶對按鍵的識別。
- 寬屏背光液晶顯示屏:顯示屏的大數字字便于閱讀厚度測量讀數。此外,如使用場致發光的背光顯示,屏幕內容無論在暗處還是陽光下都會清晰可見。
- MG2-XT型儀器和MG2-DL型儀器都配備有Olympus® THRU-T®(穿透鍍層)功能、B掃描,及帶有波
形調節的可選實時A掃描。
可在3種儀器中選擇
PANAMETRICS MG2
Panametrics® MG2型測厚儀具有許多基本的功能,如:小值/值模式,以每秒20個讀數快速測量和回放小厚度值;凍結模式,可即刻捕捉關鍵厚度讀數;位補償模式,可發揮探頭的性能。該價格合理的手持式測厚儀還具有其它多種功能,可用于在現場進行的快速測量。
PANAMETRICS MG2-XT
Panametrics® MG2-XT型測厚儀具有與Panametrics MG2型測厚儀相同的功能。該測厚儀由于增加了B掃描、增益調整、自動靈敏度優化、回波到回波、Olympus® THRU-T®(穿透鍍層)、差值模式、高/低報警、可選動態A掃描等測量功能,可在條件惡劣的應用中發揮更高的效能。這款測厚儀是測量表面涂有鍍層或漆層的材料厚度的理想的儀器。
PANAMETRICS MG2-DL
Panametrics® MG2-DL是MG2系列測厚儀中的一款儀器。該儀器不具有Panametrics MG2堠吀謀儀器的功能,還裝有一個基于文件的通用的字母數字數據記錄器,可存儲增量、順序、兩維及Boiler格式的文件。使用可選的GageView™ Pro接口程序,可以在計算機和測厚儀之間雙向傳輸數據。
MG2系列腐蝕測厚儀可選探頭(部分)
| 探頭型號 | 頻率 | 探頭尺寸 | 溫度范圍 | 測量范圍(鋼) |
| D790 | 5.0MHz | 11.0mm | -20-500℃ | 1-500mm |
| D791 | 5.0MHz | 11.0mm | -20-500℃ | 1-500mm |
| D791-RM | 5.0MHz | 11.0mm | -20-400℃ | 1-500mm |
| D792 | 10.0MHz | 7.2mm | 0-50℃ | 0.5-25mm |
| D794 | 5.0MHz | 7.2mm | 0-50℃ | 0.75-50mm |
| D797 | 2.0MHz | 22.9mm | -20-400℃ | 2.5-500mm |
| D7226 | 7.5MHz | 8.9mm | -20-150℃ | 0.71-100mm |
| D798 | 7.5MHz | 7.2mm | -20-150℃ | 0.71-100mm |
| D799 | 5.0MHz | 11.0mm | -20-150℃ | 1-500mm |
| MTD705 | 5.0MHz | 5.1mm | 0-50℃ | 0.75-19mm |
Panametrics MG2系列技術規格
測量
測量模式:使用雙晶探頭的脈沖回波法
厚度測量范圍:0.50 mm~635.00 mm,厚度測量范圍取決于材料、探頭、表面條件和溫度。
材料聲速校準范圍:0.508 mm/μs~18.699 mm/μs
顯示模式
• 厚度的數字式讀出形式
• 顯示橫截面圖像的B掃描
• 實時A掃描或稱波形圖(可選)
• dB柵格(Panametrics MG2-DL型)
厚度顯示分辨率:低:0.1 mm標準:0.01 mm
測量速率:標準:每秒鐘4次測量??焖伲好棵腌?0次測量。
小值/值模式:在每秒鐘20次測量的速率下,測量和回放小或厚度值。
凍結模式:凍結圖像,以瞬時捕獲關鍵厚度值。小化探頭的耦合提離誤差,易于高溫測量。
自動探頭識別:自動識別列表中的Panametrics® 探頭類型。調整內部參數,并校正V形聲程誤差。
位補償:補償探頭溫度和位偏移。顯示保持/空白模式:保持或清除測量后的顯示視圖。
場致發光背光顯示:可選“開啟”或者“自動開啟”。
接收器帶寬:1 MHz~18 MHz(–3 dB)
公制/美制單位模式:毫米或者英寸。
顯示語言:英語、法語、德語、西班牙語、意大利語及其它自定義語言。
電源供應
電池:3節AA堿性電池。
工作時間:電池供電時間一般為150小時;如使用背光,可連續供電30 個小時。
低電量顯示器:持續顯示電池的電量狀態。
省電模式:自動電源關閉/持續開啟。
一般規格
合IP65標準:濺、撞擊機殼。密封、以顏分功能的鍵盤,帶觸感及聲音反饋。
危險區域操作:可在美軍標準MIL-STD-810E,方法511.3,程序1所規定的環境中操作。
工作溫度范圍:
–10 °C~50 °C
外型尺寸(寬 x 高 x 厚):84.0 mm x 152.4 mm x 39.6 mm
重量:340 g
MG2-XT與MG2-DL的技術規格
Olympus® THRU-T®(穿透鍍層)測量:
利用單個底面回波(使用D7906-SM和D7908探頭),測量鍍層厚度和金屬的實際厚度。
穿透漆層回波到回波:利用多重底面回波,不計涂層厚度,顯示金屬的真實厚度值。
• 自動回波到回波
• 手動回波到回波(適用于實時A掃描模式),可進行:
-- 增益調整
-- 鄰區抑制
-- 回波抑制
增益調整:
• 為增益調整預設高、低或標準增量。
• 手動增益調整的增量可被設為1 dB(適用于實時A掃描模式)。
鄰區抑制:可抑制由于材料表面粗糙或不規則而造成的噪聲回波(適用于A掃描模式)。
自動靈敏度增益優化:可根據厚度和材料的噪聲水平,自動或降低正常測量的靈敏度。
報警模式:可編程的高/低設置點,帶視聽指示器。
差值模式:顯示實際厚度測量值與自定義參考值之間的差值。
帶有波形調節的實時A掃描:用戶使用可選的實時A掃描模式功能,可以直接在儀器的視圖中查看聲波形(或A掃描)。該模式包括以
下功能:手動增益調整、鄰區抑制、回波抑制、延遲。
PANAMETRICS MG2-DL內置數據記錄器
數據記錄器:Panameterics® MG2-DL型儀器通過U端口,可以識別、存儲、回放、清除及傳輸厚度測量讀數和儀器的配置信息。
存儲量:可存儲多達31000個厚度測量讀數,或1300個帶有厚度測量的波形(帶有波形選項)。
存儲的數據文件:每個被存儲的厚度讀數,連同測量狀態標記及可識別聲速、探頭等參數的設置編碼,都被歸檔。
文件名長度:8位字母數字字。
標識碼:10位字母數字標識碼系統,可識別或定位所存儲的數據。
文件模版:增量型、順序型、2維柵格、Boiler及PC中的自定義文件模版。
標準配置
MG2型數字聲測厚儀、手腕帶、測試棒、耦合劑、用戶手冊、塑料攜帶箱(指Panametrics MG2-XT型和Panametrics MG2-DL型儀器)、2年有限。標準配置還包括一個雙晶探頭。
選購附件
2214E: 5階梯試塊,美制單位。
2214M:5階梯試塊,公制單位。
MG/EW:延長。
MG2/RPC:橡膠保護套。
GageView:用于Panametrics MG2-DL的PC機接口程序。
MG2/XTRETRO:將Panametrics MG2型轉換為Panametrics MG2-XT型的轉換器。
MG2XT/DLRETRO:將Panametrics MG2-XT轉換Panametrics MG2-DL型的轉換器。
MG2/DLRETRO:將Panametrics MG2型轉換為Panametrics MG2-DL型的轉換器。
MG2/WF:帶有波形調節的實時A掃描用于Panametrics MG2-XT型與PanametricsMG2-DL型儀器(不適用于
Panametrics MG2型儀器)。
U/ADP-115:AC-115電源供應
U/ADP-230:AC-230電源供應
欲查詢其它有關支架、連接桿及耦合劑的信息,請與我聯系。



