◆測量貴金屬如金、銀、鉑等效果甚佳
◆分析測量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
◆也可以測量鍍層厚度 ◆◆ROHS指令檢測主要技術指標 ◆分析:0.05%
◆樣品室尺寸:1000*1000*300MM
◆測量時間:60-300秒
◆工作電源:220U&plun;5U
◆高 壓:15-50KV
◆管 流:600μA
◆計數率:1300-8000Cps
◆ ROHS指令有害元素儀檢出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br為1PPM
◆檢測時間為200秒
◆電致冷硅針半導體探測器
◆加強金屬元素感度分析 ◆◆儀器基本配置 ◆單樣品腔 ◆計算機、噴墨打印機 ◆硅針半導體探測器
◆硅針半導體探測器
◆放大電路
◆高低壓電源
◆X光管 ◆無真空腔體

