體積小，容量大，緣電阻，擊穿電壓高等特點，適合自動安裝的卷帶包裝．
環氧樹脂封裝，從而具有優良的耐壓，熱，震，濕性能，在焊接及清洗時不損壞電容表面．
□性能介紹：
溫度特性 T.C | NPO/COG | X7R(B) | Y5V(Y/F) | Z5U(E) | |
介質種類 | Ｉ類電介質 | ＩＩ類電介質 | |||
電氣性能 | 電氣性能穩定，基本上不隨溫度，電壓和時間的改變而改變． | 電氣性能較穩定，基本上不隨溫度，電壓和時間的改變而變化不顯著，能造出比NPO介質容量更大的電容器． | 具有較高的介電常數，常用于生產比較大，標稱容量較高的大容量電容器產品，但其容量穩定性能較X7R差，容量損耗對溫度，電壓等條件較敏感． | ||
應用 | 適用于對穩定性要求高的電路，如溫度補償電路，高頻震蕩電路等． | 適用于隔直，耦合，旁路與對容量穩定性要求不太高的變頻電路． | 適用于要求容量較大的電路，如儲能，記憶電路等． | ||
容量范圍 | 1pF-10nF | 100pF-5uF | 1uF-14.7uF | ||
溫度系數 | 0&plun;30ppm/℃ -55℃～+125℃ | &plun;15% -55℃～+125℃ | &plun;30%～-80% -25℃～+85℃ | &plun;22%～-56% -10℃～+85℃ | |
□電性能標準：
檢驗項目 | 檢驗標準 | |||||
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電容量 | 在相應的誤差范圍內 | 在相應的誤差范圍內 | 在相應的誤差范圍內 | |||
損耗角正切 |
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緣電阻 |
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耐電壓 | 倍標稱電壓，電流不過秒，無介質擊穿． | |||||
測試條件 | ||||||
容量，損耗 測試頻率 | 1MHz (c>1000pF1MHz) | 1KHz | ||||
容量，損耗 測試電壓 | 1.0VDC | 0.5VDC | ||||
緣電阻測試電壓 | 端子間加額定電壓，60&plun;5秒后讀值，充電電流不過50mA， | |||||
標準測試環境 | 溫度：23&plun;2℃相對濕度：75%以下． | |||||
